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Sensoren - beam - Elektronik & Verlag

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Messtechnik<br />

Neues High-Voltage-System SourceMeter-Instrument<br />

Keithley Instruments stellt das High-Power-System SourceMeter-Instrument Modell 2657A vor.<br />

Dieses Modell erweitert die<br />

Familie der sehr schnellen und<br />

hoch genauen System-Source-<br />

Meter der Serie 2600A um ein<br />

Hochspannungsinstrument für<br />

die Charakterisierung unterschiedlichsterLeistungshalbleiter<br />

und Materialien. Durch<br />

die eingebaute 3.000-V-/180-<br />

W-Quelle erlaubt das Modell<br />

2657A die Einspeisung einer<br />

bis zu fünffachen Leistung in<br />

das Testobjekt im Vergleich zu<br />

anderen Systemen - und dies<br />

bei deutlich niedrigeren Kosten.<br />

Die sehr präzise und schnelle<br />

6 1/2-stellige Messtechnik im<br />

Modell 2657A ermöglicht Strommessungen<br />

bis zu einer Messauf-<br />

lösung von 1 fA (Femtoampere),<br />

so dass auch der Leckstrom von<br />

Leistungshalbleitern der nächsten<br />

Generation problemlos<br />

gemessen werden kann.<br />

Einsatzgebiete<br />

ACS Basic Edition-Software<br />

Die ACS Basic Edition-Software<br />

ist ebenfalls als eine<br />

Option für die Bauteilcharakterisierung<br />

verfügbar. Die<br />

neuste Version bietet umfangreiche<br />

Funktionen für die Charakterisierung<br />

von Hochspannungs-<br />

und Hochstrom-Bauteilen.<br />

Die enthaltenen Messbibliotheken<br />

wurden aktualisiert<br />

und unterstützen nun sowohl<br />

einen DC- als auch einen Puls-<br />

Das Modell 2657A wurde speziell<br />

für Hochspannungsanwendungen<br />

wie den Test von<br />

Leistungshalbleitern, wie Dioden,<br />

FETs und IGBTs sowie die<br />

Charakterisierung von neueren<br />

Materialien wie Galliumnitrid<br />

(GaN), Siliziumkarbid (SiC) und<br />

anderen Verbindungshalbleiter-Materialien<br />

und -Bauteilen<br />

optimiert. Es eignet sich auch<br />

für die Charakterisierung von<br />

Modus sowie das Hochspannungs-Modell<br />

2657A und das<br />

Hochstrom-Modell 2651A der<br />

High-Power-System SourceMeter-Instrumente.<br />

Diese Bibliotheken<br />

adressieren verschiedene<br />

Leistungsbauteile, wie<br />

FETs, BJTs, Dioden, IGBTs<br />

etc., sowie vielfältige Tests,<br />

wie Eingangs-, Ausgangs- und<br />

Übertragungs-Charakteristik<br />

der meisten Bauteile.<br />

sehr schnellen Einschwingvorgängen<br />

sowie Durchbruch- und<br />

Leckstromtests bei verschiedenen<br />

elektronischen Bauteilen<br />

bis 3.000 V.<br />

Das Modell zeichnet sich durch<br />

eine Kombination von einer sehr<br />

flexiblen Vierquadranten-Spannungs-<br />

und Stromquelle/Last mit<br />

hochgenauen Volt- und Amperemetern<br />

aus. Es kombiniert die<br />

Funktionalität von mehreren<br />

Instrumenten in einem einzigen<br />

Gerät: Halbleiter-Charakterisierungssystem,Präzisionsstromversorgung,<br />

Stromquelle,<br />

6-1/2-stelliges DMM, Arbitrary-<br />

Waveform-Generator, U- und<br />

I-Pulsgenerator, elektronische<br />

Last und Trigger-Controller.<br />

Mit Hilfe der TSP-Link-Technologie<br />

von Keithley lässt es<br />

sich zudem problemlos auf ein<br />

voll synchronisiertes mehrkanaliges<br />

System erweitern. Das<br />

2657A kann bis zu 180 W DC-<br />

Leistung als Quelle oder Senke<br />

liefern (±3.000 V@20 mA,<br />

±1500 V@120 mA). Es bietet<br />

außerdem eine Auflösung von<br />

1 fA, so dass sehr schnelle und<br />

genaue Sub-Picoampere-Messungen<br />

selbst bei einer Einspeisung<br />

von bis zu 3000 V möglich<br />

sind.<br />

Messmodi für Digitalisierung oder<br />

Integration<br />

Das Modell 2657A unterstützt<br />

digitalisierende und integrierende<br />

Messungen zur genauen<br />

Charakterisierung von sowohl<br />

kurzzeitigen Ereignissen, als<br />

auch eines konstanten Verhaltens,<br />

wie beispielsweise sich schnell<br />

ändernde thermische Effekte. Je<br />

zwei unabhängige A/D-Wandler<br />

stehen für jeden der beiden<br />

Modi zur Verfügung, einer für<br />

Strom und einer für Spannung.<br />

Somit ist gleichzeitig ein genaues<br />

Rücklesen der Quellen möglich,<br />

ohne dass der Testdurchsatz eingeschränkt<br />

wird. Die im digitalisierenden<br />

Messmodus verwendeten18-Bit-A/D-Wandler<br />

ermöglichen eine Abtastung<br />

in Schritten von einer Mikrosekunde,<br />

so dass Spannungs-<br />

und Stromspitzen gleichzeitig<br />

erfasst werden können. Im<br />

Gegensatz ermitteln vergleichbare<br />

Lösungen normalerweise<br />

das Ergebnis aus dem Mittelwert<br />

mehrerer Messwerte und<br />

sind somit nicht schnell genug<br />

und daher für die Charakterisierung<br />

kurzzeitiger Ereignisse<br />

nicht geeignet. Der integrierende<br />

Messmodus basiert auf einem<br />

22-Bit-A/D-Wandler und optimiert<br />

das Instrument für Anwendungen,<br />

die eine höchstmögliche<br />

Messgenauigkeit und Auflösung<br />

erfordern. Dies gewährleistet<br />

genaue Messungen von sehr kleinen<br />

Strömen und hohen Spannungen<br />

beispielsweise bei den<br />

Leistungshalbleitern der nächsten<br />

Generation.<br />

Leistungsfähige Tools für die<br />

Testentwicklung<br />

Mit TSP Express, der LXIbasierenden<br />

I-U-Testsoftware<br />

von Keithley, ist eine grundlegendeBauteilcharakterisierung<br />

ohne Programmierung<br />

oder Softwareinstallation möglich.<br />

Hierzu wird einfach ein PC<br />

mit dem LXI-LAN-Port verbunden<br />

und TSP Express über einen<br />

Java-fähigen Webbrowser aufgerufen.<br />

Die Ergebnisse können<br />

entweder in graphischer<br />

oder tabellarischer Form dargestellt<br />

und in eine .csv-Datei zur<br />

Verwendung in einer Tabellenkalkulation<br />

exportiert werden.<br />

Zwei zusätzliche Tools für die<br />

Erstellung von Testsequenzen<br />

werden mit dem Modell 2657A<br />

mitgeliefert: die Test Script Builder-Applikation<br />

(für Erstellung,<br />

Änderung, Debugging, Ausführung<br />

und Verwaltung von TSP-<br />

Skripts) und ein IVI-basierter<br />

LabVIEW-Treiber (zur einfachen<br />

Integration des Modells<br />

2657A in LabVIEW-Testfolgen).<br />

Die Test Script Builder-Applikation<br />

verfügt über neue Debugging-Möglichkeiten,<br />

welche die<br />

Testprogrammentwicklung einfacher<br />

und produktiver machen.<br />

� Keithley Instruments. Inc.<br />

www.keithley.com<br />

36 Einkaufsführer Messtechnik & Sensorik 2012

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