Sensoren - beam - Elektronik & Verlag
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Messtechnik<br />
Neues High-Voltage-System SourceMeter-Instrument<br />
Keithley Instruments stellt das High-Power-System SourceMeter-Instrument Modell 2657A vor.<br />
Dieses Modell erweitert die<br />
Familie der sehr schnellen und<br />
hoch genauen System-Source-<br />
Meter der Serie 2600A um ein<br />
Hochspannungsinstrument für<br />
die Charakterisierung unterschiedlichsterLeistungshalbleiter<br />
und Materialien. Durch<br />
die eingebaute 3.000-V-/180-<br />
W-Quelle erlaubt das Modell<br />
2657A die Einspeisung einer<br />
bis zu fünffachen Leistung in<br />
das Testobjekt im Vergleich zu<br />
anderen Systemen - und dies<br />
bei deutlich niedrigeren Kosten.<br />
Die sehr präzise und schnelle<br />
6 1/2-stellige Messtechnik im<br />
Modell 2657A ermöglicht Strommessungen<br />
bis zu einer Messauf-<br />
lösung von 1 fA (Femtoampere),<br />
so dass auch der Leckstrom von<br />
Leistungshalbleitern der nächsten<br />
Generation problemlos<br />
gemessen werden kann.<br />
Einsatzgebiete<br />
ACS Basic Edition-Software<br />
Die ACS Basic Edition-Software<br />
ist ebenfalls als eine<br />
Option für die Bauteilcharakterisierung<br />
verfügbar. Die<br />
neuste Version bietet umfangreiche<br />
Funktionen für die Charakterisierung<br />
von Hochspannungs-<br />
und Hochstrom-Bauteilen.<br />
Die enthaltenen Messbibliotheken<br />
wurden aktualisiert<br />
und unterstützen nun sowohl<br />
einen DC- als auch einen Puls-<br />
Das Modell 2657A wurde speziell<br />
für Hochspannungsanwendungen<br />
wie den Test von<br />
Leistungshalbleitern, wie Dioden,<br />
FETs und IGBTs sowie die<br />
Charakterisierung von neueren<br />
Materialien wie Galliumnitrid<br />
(GaN), Siliziumkarbid (SiC) und<br />
anderen Verbindungshalbleiter-Materialien<br />
und -Bauteilen<br />
optimiert. Es eignet sich auch<br />
für die Charakterisierung von<br />
Modus sowie das Hochspannungs-Modell<br />
2657A und das<br />
Hochstrom-Modell 2651A der<br />
High-Power-System SourceMeter-Instrumente.<br />
Diese Bibliotheken<br />
adressieren verschiedene<br />
Leistungsbauteile, wie<br />
FETs, BJTs, Dioden, IGBTs<br />
etc., sowie vielfältige Tests,<br />
wie Eingangs-, Ausgangs- und<br />
Übertragungs-Charakteristik<br />
der meisten Bauteile.<br />
sehr schnellen Einschwingvorgängen<br />
sowie Durchbruch- und<br />
Leckstromtests bei verschiedenen<br />
elektronischen Bauteilen<br />
bis 3.000 V.<br />
Das Modell zeichnet sich durch<br />
eine Kombination von einer sehr<br />
flexiblen Vierquadranten-Spannungs-<br />
und Stromquelle/Last mit<br />
hochgenauen Volt- und Amperemetern<br />
aus. Es kombiniert die<br />
Funktionalität von mehreren<br />
Instrumenten in einem einzigen<br />
Gerät: Halbleiter-Charakterisierungssystem,Präzisionsstromversorgung,<br />
Stromquelle,<br />
6-1/2-stelliges DMM, Arbitrary-<br />
Waveform-Generator, U- und<br />
I-Pulsgenerator, elektronische<br />
Last und Trigger-Controller.<br />
Mit Hilfe der TSP-Link-Technologie<br />
von Keithley lässt es<br />
sich zudem problemlos auf ein<br />
voll synchronisiertes mehrkanaliges<br />
System erweitern. Das<br />
2657A kann bis zu 180 W DC-<br />
Leistung als Quelle oder Senke<br />
liefern (±3.000 V@20 mA,<br />
±1500 V@120 mA). Es bietet<br />
außerdem eine Auflösung von<br />
1 fA, so dass sehr schnelle und<br />
genaue Sub-Picoampere-Messungen<br />
selbst bei einer Einspeisung<br />
von bis zu 3000 V möglich<br />
sind.<br />
Messmodi für Digitalisierung oder<br />
Integration<br />
Das Modell 2657A unterstützt<br />
digitalisierende und integrierende<br />
Messungen zur genauen<br />
Charakterisierung von sowohl<br />
kurzzeitigen Ereignissen, als<br />
auch eines konstanten Verhaltens,<br />
wie beispielsweise sich schnell<br />
ändernde thermische Effekte. Je<br />
zwei unabhängige A/D-Wandler<br />
stehen für jeden der beiden<br />
Modi zur Verfügung, einer für<br />
Strom und einer für Spannung.<br />
Somit ist gleichzeitig ein genaues<br />
Rücklesen der Quellen möglich,<br />
ohne dass der Testdurchsatz eingeschränkt<br />
wird. Die im digitalisierenden<br />
Messmodus verwendeten18-Bit-A/D-Wandler<br />
ermöglichen eine Abtastung<br />
in Schritten von einer Mikrosekunde,<br />
so dass Spannungs-<br />
und Stromspitzen gleichzeitig<br />
erfasst werden können. Im<br />
Gegensatz ermitteln vergleichbare<br />
Lösungen normalerweise<br />
das Ergebnis aus dem Mittelwert<br />
mehrerer Messwerte und<br />
sind somit nicht schnell genug<br />
und daher für die Charakterisierung<br />
kurzzeitiger Ereignisse<br />
nicht geeignet. Der integrierende<br />
Messmodus basiert auf einem<br />
22-Bit-A/D-Wandler und optimiert<br />
das Instrument für Anwendungen,<br />
die eine höchstmögliche<br />
Messgenauigkeit und Auflösung<br />
erfordern. Dies gewährleistet<br />
genaue Messungen von sehr kleinen<br />
Strömen und hohen Spannungen<br />
beispielsweise bei den<br />
Leistungshalbleitern der nächsten<br />
Generation.<br />
Leistungsfähige Tools für die<br />
Testentwicklung<br />
Mit TSP Express, der LXIbasierenden<br />
I-U-Testsoftware<br />
von Keithley, ist eine grundlegendeBauteilcharakterisierung<br />
ohne Programmierung<br />
oder Softwareinstallation möglich.<br />
Hierzu wird einfach ein PC<br />
mit dem LXI-LAN-Port verbunden<br />
und TSP Express über einen<br />
Java-fähigen Webbrowser aufgerufen.<br />
Die Ergebnisse können<br />
entweder in graphischer<br />
oder tabellarischer Form dargestellt<br />
und in eine .csv-Datei zur<br />
Verwendung in einer Tabellenkalkulation<br />
exportiert werden.<br />
Zwei zusätzliche Tools für die<br />
Erstellung von Testsequenzen<br />
werden mit dem Modell 2657A<br />
mitgeliefert: die Test Script Builder-Applikation<br />
(für Erstellung,<br />
Änderung, Debugging, Ausführung<br />
und Verwaltung von TSP-<br />
Skripts) und ein IVI-basierter<br />
LabVIEW-Treiber (zur einfachen<br />
Integration des Modells<br />
2657A in LabVIEW-Testfolgen).<br />
Die Test Script Builder-Applikation<br />
verfügt über neue Debugging-Möglichkeiten,<br />
welche die<br />
Testprogrammentwicklung einfacher<br />
und produktiver machen.<br />
� Keithley Instruments. Inc.<br />
www.keithley.com<br />
36 Einkaufsführer Messtechnik & Sensorik 2012