2 Versetzungen in kristallinen Halbleitern
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<strong>Versetzungen</strong> <strong>in</strong> kristall<strong>in</strong>en <strong>Halbleitern</strong> 15<br />
segmenten der anderen Gleitebenen kommen. Das Ergebnis s<strong>in</strong>d prismatische Versetzungsschleifen<br />
aus den unterschiedlich polaren 60°-<strong>Versetzungen</strong>, die <strong>in</strong> den korrespondierenden<br />
Gleitebenen liegen.<br />
Die durch Mikrodeformation erzeugte Versetzungsstruktur ist im Rahmen dieser Arbeit<br />
mittels REM-KL Mikroskopie detailliert untersucht worden (Kapitel 5). Mit der KL-Mode<br />
wird die Defektstruktur <strong>in</strong> e<strong>in</strong>em oberflächennahen Probenbereich abgebildet. Defektanordnungen<br />
<strong>in</strong> größerer Tiefe konnten durch e<strong>in</strong>e kontrollierte Abtragsätze zugänglich gemacht<br />
werden.<br />
[ 101><br />
[01 1><br />
[110> a) b) c)<br />
Abb. 2.12 Schema der Versetzungsanordnung <strong>in</strong> der (111)-Oberfläche für die Tangential- und Volumengleitung<br />
nach lokaler Mikrodeformation. In (a) ist die sechsarmige Versetzungsrosette <strong>in</strong> der Oberfläche<br />
skizziert; jeder Arm besteht hier aus 2 Zweigen mit verschieden polaren 60°-<strong>Versetzungen</strong>. In bestimmter<br />
Tiefe unter der Oberfläche werden oberflächenparallele Schleifen aus B(g)-<strong>Versetzungen</strong> erwartet<br />
(b), Reste aus Durchstoßsegmenten und Schraubenanteile s<strong>in</strong>d ebenfalls vorhanden. In größerer Tiefe<br />
ergibt sich die dreizählige Versetzungsanordnung der Volumengleitung (c). Für die (111)-Oberfläche<br />
gelten analoge Konfigurationen mit vertauschter Polarität der 60°-Versetzungsanteile. Hellgrau<br />
dargestellt s<strong>in</strong>d die B(g)-<strong>Versetzungen</strong>, dunkelgrau die A(g)-<strong>Versetzungen</strong>, Schraubenanteile s<strong>in</strong>d<br />
schwarz. Punkte entsprechen Durchstoßversetzungen, L<strong>in</strong>ien s<strong>in</strong>d oberflächenparallele Segmente.<br />
Abb. 2.12 zeigt die aus den Vorhersagen des Gleitprismenmodells zu erwartende Versetzungsanordnung<br />
<strong>in</strong> der Oberfläche bzw. im oberflächennahen Bereich ger<strong>in</strong>ger Tiefenlage<br />
sowie im Volumen. Es kann klar zwischen tangentialer (a,b) und tetraedrischer Gleitung (c)<br />
unterschieden werden. Experimentelle Ergebnisse zur Tiefenabhängigkeit werden <strong>in</strong> Kapitel<br />
5.1 behandelt.<br />
Analog zur {111}-Oberfläche können gleiche Betrachtungen zur Versetzungskonfiguration<br />
nach Mikro<strong>in</strong>dentierung für beliebige andere Oberflächenorientierungen durchgeführt<br />
werden. Durch E<strong>in</strong>beschreiben der jeweiligen Kristalloberfläche <strong>in</strong> das allgeme<strong>in</strong>e Modell <strong>in</strong><br />
Abb. 2.8 erhält man die gesuchte Gleitprismenanordnung im oberflächennahen und<br />
Volumenbereich. Entsprechende Betrachtungen werden nachfolgend für die (110)- und<br />
(001)-Oberfläche durchgeführt.<br />
2.3.3 Versetzungsanordnung nach Mikrodeformation der (110)-Oberfläche<br />
Die Anwendung des vorliegenden Modells auf die (110)-Oberfläche sagt e<strong>in</strong>e Defektkonfiguration<br />
entsprechend Abb. 2.13 voraus. Charakteristisch ist hier die Tatsache, dass es nur<br />
e<strong>in</strong>e oberflächenparallele -Richtung gibt, die [110]-Richtung. Dagegen existieren fünf<br />
Volumengleitprismen, e<strong>in</strong> flächennormales Prisma <strong>in</strong> [110]-Richtung und vier Prismen, die<br />
alle <strong>in</strong> e<strong>in</strong>em recht kle<strong>in</strong>en W<strong>in</strong>kel von 30° zur Oberfläche <strong>in</strong> die Tiefe gehen. Bei der<br />
( 111 )