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3 Auger-Elektronenspektroskopie (AES) - KOPS - Universität Konstanz

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3 <strong>Auger</strong>-<strong>Elektronenspektroskopie</strong> (<strong>AES</strong>)<br />

0<br />

R(Z)<br />

25<br />

1 1<br />

0.75 0.75<br />

0.5<br />

0<br />

25<br />

50<br />

0.5<br />

50<br />

For aliebig Wed Dec 18 18:36:09 CET 2002<br />

Abbildung 3.8: Rückstreukorrektur Ri,S(Z) für die 1030 eV Linie von Gadolinium als Funktion<br />

der Ordnungszahl des Substratmaterials<br />

Betrachten wir eine binäre Verbindung,<br />

bestehend aus dem Komponenten A<br />

und B. Dann errechnet sich der <strong>Auger</strong>-<br />

Elektronenstrom der Komponente A zu<br />

IA = I0σA(Ep)[1 + ri(EA)]T (EA)D(EA)<br />

�∞<br />

−z<br />

∗ NA(z)exp<br />

dz (3.13)<br />

λi(EA)cosθ<br />

0<br />

dabei ist T die Transmission des Analysators<br />

und D die Detektorempfindlichkeit. Für die<br />

homogene Probe vereinfacht sich das Integral<br />

zu NAλi(EA)cosθ. Vergleich der Intensitäten<br />

mit jeweils reinen Volumenproben, Einsetzen<br />

der Dichte (um von NA auf den molaren Anteil<br />

XA zu kommen) und der freien Weglänge<br />

ergibt:<br />

XA<br />

XB<br />

= F A AB<br />

IA<br />

I ∞ A<br />

IB<br />

I ∞ B<br />

wobei I∞ A , I∞ B<br />

nen (Element-) Proben sind. F A AB<br />

30<br />

(3.14)<br />

die Linienintensitäten der rei-<br />

ist der<br />

Matrixfaktor:<br />

F A AB(XA → 0) = 1+rA(EA)<br />

1+rB(EA)<br />

� �1.5 aB<br />

aA<br />

(3.15)<br />

� �1.5 aB<br />

F A AB(XA → 1) = 1+rA(EB)<br />

1+rB(EB) aA<br />

(3.16)<br />

Die hier enthaltenen Rückstreukorrekturen<br />

ändern sich natürlich mit der Zusammensetzung<br />

der Probe. Nach den Untersuchungen<br />

von Hall und Morabito [HaM79] ist der Unterschied<br />

zwischen den Extremwerten XA →<br />

0 und XA → 1indenmeistenFällen kleiner<br />

als 5%. Dies ist wesentlich kleiner, als die<br />

Fehler, die durch ungenaue Werte der freien<br />

Weglänge zustandekommen.<br />

3.2.4 Adsorbatschichten<br />

Seah [Sea83] gibt ein Verfahren zur Quantifizierung<br />

von dünnen Adsorbatschichten an.<br />

Dieses wurde in <strong>Konstanz</strong> 1991 von Krausch

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