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Effet tunnel dépendant du spin : Des simples aux doubles ... - LPM

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Elaboration de jonctions <strong>tunnel</strong><br />

Fig. 13 : Procédé technologique utilisé dans le groupe d'IBM (d'après<br />

[GAL 97b])<br />

Les différences entre procédés viennent bien sûr essentiellement de la géométrie<br />

(éventuellement définie à l'échelle nanométrique par lithographie électronique [RIS 97] ), de la<br />

nature des matéri<strong>aux</strong>, ainsi que de la méthode de gravure utilisée (gravure ionique principalement<br />

mais aussi gravure chimique sélective [BOB 98] ). L'ouverture de l'isolant est souvent<br />

réalisée par lift-off autoaligné (cf. II.3.1) comme sur la figure 13 mais peut également être<br />

réalisée par gravure [BOE 98] . Un brevet IBM [GAL 97] envisage également d'ouvrir l'isolant par<br />

polissage mécano-chimique, technique utilisée pour les dernières générations de circuits<br />

intégrés. Il existe aussi des procédés différents comme celui développé au CEA [VIR 97] , basé<br />

sur une géométrie croix (la surface de la jonction est définie par l'intersection des deux<br />

électrodes). Ce procédé autoaligné se limite à deux étapes de lithographie.<br />

Du fait des restrictions de notre système de gravure (cf. II.3.2), il nous est plus facile<br />

de commencer par définir les jonctions et ensuite l'électrode inférieure. Bien sûr ce faisant, il<br />

est compliqué d'utiliser un isolant autoaligné. Nous avons veillé à limiter les températures des<br />

différentes opérations afin de ne pas modifier de façon incontrôlée la structure des jonctions.<br />

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