Effet tunnel dépendant du spin : Des simples aux doubles ... - LPM
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Elaboration de jonctions <strong>tunnel</strong><br />
Fig. 13 : Procédé technologique utilisé dans le groupe d'IBM (d'après<br />
[GAL 97b])<br />
Les différences entre procédés viennent bien sûr essentiellement de la géométrie<br />
(éventuellement définie à l'échelle nanométrique par lithographie électronique [RIS 97] ), de la<br />
nature des matéri<strong>aux</strong>, ainsi que de la méthode de gravure utilisée (gravure ionique principalement<br />
mais aussi gravure chimique sélective [BOB 98] ). L'ouverture de l'isolant est souvent<br />
réalisée par lift-off autoaligné (cf. II.3.1) comme sur la figure 13 mais peut également être<br />
réalisée par gravure [BOE 98] . Un brevet IBM [GAL 97] envisage également d'ouvrir l'isolant par<br />
polissage mécano-chimique, technique utilisée pour les dernières générations de circuits<br />
intégrés. Il existe aussi des procédés différents comme celui développé au CEA [VIR 97] , basé<br />
sur une géométrie croix (la surface de la jonction est définie par l'intersection des deux<br />
électrodes). Ce procédé autoaligné se limite à deux étapes de lithographie.<br />
Du fait des restrictions de notre système de gravure (cf. II.3.2), il nous est plus facile<br />
de commencer par définir les jonctions et ensuite l'électrode inférieure. Bien sûr ce faisant, il<br />
est compliqué d'utiliser un isolant autoaligné. Nous avons veillé à limiter les températures des<br />
différentes opérations afin de ne pas modifier de façon incontrôlée la structure des jonctions.<br />
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