MEMOIRE MAGISTER THEME - Université Ferhat Abbas de Sétif
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Chapitre 2 In<strong>de</strong>ntation<br />
(2-11)<br />
Les paramètres A, m, et hf (profon<strong>de</strong>ur résiduelle d’empreinte) sont ajustés sur les points<br />
expérimentaux par les moindres carrés. La rai<strong>de</strong>ur est déduite en différenciant la relation :<br />
(2-12)<br />
Afin <strong>de</strong> trouver l’aire <strong>de</strong> contact, ils expriment la profon<strong>de</strong>ur <strong>de</strong> contact comme étant égale à<br />
hc=hmax−hs<br />
h=ε.p⁄s<br />
(2-13)<br />
(2-14)<br />
Où ε varie en fonction <strong>de</strong> la géométrie <strong>de</strong> l’in<strong>de</strong>nteur .Il est égal à 0,75 pour un In<strong>de</strong>nteur<br />
Parabolique et 0,72 pour un in<strong>de</strong>nteur conique et prend la valeur 1 pour un in<strong>de</strong>nteur plat. Les<br />
Différentes profon<strong>de</strong>urs sont représentées sur la figure 2.18.<br />
Figure 2.18 : Représentation d’une in<strong>de</strong>ntation en section [ULLN 02].<br />
Une première métho<strong>de</strong> consiste à effectuer une série d’empreintes dans un matériau parfaitement<br />
connu ayant une dureté constante et à mesurer l’aire <strong>de</strong> contact à l’ai<strong>de</strong> <strong>de</strong> moyens tels que le<br />
microscope électronique à balayage ou encore le microscope électronique en transmission. Cette<br />
technique très coûteuse en moyens et en temps est fondée sur l’hypothèse que le matériau n’est pas<br />
affecté par la décharge, plus précisément que sa composante élastique est négligeable.<br />
Les autres métho<strong>de</strong>s découlent directement <strong>de</strong> l’exploitation <strong>de</strong>s courbes charge-décharge<br />
obtenues avec <strong>de</strong>s matériaux donnés.<br />
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