Activité physique et sport - (CCI) de l'Yonne

Fiche de compétence mise à jour en décembre 2010Analyse de défauts nanométriques- Développement des microscopies de champ proche* permettant la résolution très fine(sub-nanométrique) sur des échantillons conducteurs ou isolants.- Conception de capteurs.- Développement de nanosondes (pH, température, conductimétrie).* Microscopies de champs proche : à effet tunnel (STM), à effet tunnel optique (PSTM), à force atomique (AFM),optique en champs proche (SNOM), acoustique ou à ultrasons (SNFUH), micro-onde (SMM…).- Contrôle Non Destructif- Analyse 3D surfacique- Tomographie 3D- Métaux et composites- R&D capteurs- Plateforme ARCEN (Applications, Rechercheet Caractérisation à l’Echelle Nanométrique)- Plateforme CLIPP (Plateforme Interrégionalede Protéomique)- Microscopies AFM, STM, SMM*, acoustique enatmosphère contrôlée- Equipements de nano-lithographie- Analyse de surfaces sous atmosphère contrôlée (gaz, liquide).- Caractérisation de paramètres mécanique ou physico-chimique : interaction de force,friction, nano-indentation, viscosité, module d’élasticité.- Etude de cinétique de corrosion, d’oxydation, de biocompatibilité.- Etude de défauts sub-surfaciques (1 micromètre de profondeur maximum)CEA Valduc, Areva, Lafarge LCR, Sika Technology AG, Glaxo-SmithKline, Pfizer, Veeco Instruments Co., RIBM.