La nanoélectronique ne peut être que quantique - CEA
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ouverte jusqu’au Tbit/cm 2 .Prati<strong>que</strong>ment, le substratinitial <strong>peut</strong> <strong>être</strong> réalisé par u<strong>ne</strong> technologie de nanoimpression(nanoimprint) utilisant un moule d’abordréalisé par lithographie électroni<strong>que</strong> (étape coûteuse),puis utilisé un grand nombre de fois pour transférerle motif sur de nouveaux substrats par simple pressagede la rési<strong>ne</strong> lithographi<strong>que</strong>.100 nmmulticoucheCo/Ptgrains CoPtLes phénomè<strong>ne</strong>s de magnétorésistanceappliqués aux mémoires MRAMaFigure 2.En (a), image obtenue par microscopie à force magnéti<strong>que</strong>, de plots magnéti<strong>que</strong>s de 100 200 nmconstitués d’u<strong>ne</strong> multicouche (Pt/Co) n déposée sur un substrat de silicium prégravé. Cha<strong>que</strong>plot présente u<strong>ne</strong> aimantation pointant vers le haut, ou le bas, indépendamment de ses voisins,et <strong>peut</strong> donc supporter un bit d’information. Un tel système a été lu avec succès par u<strong>ne</strong> tête delecture classi<strong>que</strong>. En (b), image en coupe obtenue par microscopie électroni<strong>que</strong> entransmission d’un plot de silicium recouvert d’u<strong>ne</strong> multicouche Co/Pt.lecturelig<strong>ne</strong>de motécriturelig<strong>ne</strong>sde motécriture “1”lig<strong>ne</strong> de bit“1”“0”écriture “0”lig<strong>ne</strong>s de bitLe lien entre propriétés de transport électroni<strong>que</strong> etmagnétisme est à la base de nombreux phénomè<strong>ne</strong>sde magnétorésistance (dépendance de la résistanceélectri<strong>que</strong> du champ magnéti<strong>que</strong> appliqué),largementétudiés dans les laboratoires de la Direction des sciencesde la matière du <strong>CEA</strong>, dans u<strong>ne</strong> perspective tantfondamentale qu’appliquée. Sur ce dernier plan, lesefforts portent essentiellement sur le développementde nouvelles technologies pour les mémoires magnéti<strong>que</strong>sà accès aléatoire (MRAM), qui sont l’un deschamps d’application les plus importants de la spintroni<strong>que</strong>.Elles utilisent comme éléments de stockagedes jonctions tun<strong>ne</strong>l constituées d’u<strong>ne</strong> fi<strong>ne</strong> barrièreisolante (~1 nm) séparant deux couches magnéti<strong>que</strong>s.Ces jonctions sont lithographiées et gravées sous laforme de piliers de dimension submicroni<strong>que</strong>. Desélectrodes conductrices, à la base et à leur sommet,permettent d’injecter un courant électri<strong>que</strong> au traversde la barrière. U<strong>ne</strong> jonction tun<strong>ne</strong>l magnéti<strong>que</strong> secomporte avec le spin des électrons comme le fait uncouple polariseur/analyseur en opti<strong>que</strong> avec la polarisationdes photons:on <strong>peut</strong> faire varier la transmissiondes électrons à travers la barrière tun<strong>ne</strong>l enjouant sur l’angle entre les aimantations des deuxcouches magnéti<strong>que</strong>s. Pour ce faire, la direction d’aimantationde l’u<strong>ne</strong> des deux couches est fixée, tandis<strong>que</strong> la seconde est réalisée de manière à tour<strong>ne</strong>r facilementsous l’action d’un champ magnéti<strong>que</strong>. <strong>La</strong> coucheémettrice polarise en spin les électrons, la coucheréceptrice les analyse. <strong>La</strong> résistance de la jonction évolued’environ 50% entre les configurations parallèle etantiparallèle des aimantations. Ces deux niveaux derésistance permettent de stocker l’information (figure 3).Les jonctions tun<strong>ne</strong>ls sont disposées en un réseau carréintercon<strong>ne</strong>cté à la base et au sommet par deux réseauxperpendiculaires de lig<strong>ne</strong>s conductrices parallèles.<strong>La</strong> lecture consiste à faire passer un courant à traversle point mémoire et à mesurer son niveau de résistance.L’écriture se fait par envoi simultané de deux impulsionsde courant dans les deux lig<strong>ne</strong>s conductrices quise croisent au niveau du point mémoire à écrire.Ces courants génèrent deux champs magnéti<strong>que</strong>s quis’ajoutent localement et permettent de faire basculerla jonction tun<strong>ne</strong>l dans la configuration magnéti<strong>que</strong>désirée (aimantations parallèles ou antiparallèles).L’intensité des courants doit <strong>être</strong> ajustée pour <strong>que</strong> seulle point mémoire qui “ressent” la somme des deuxchamps commute. Cette technologie est actuellementla principale développée par plusieurs consortia internationauxdont Motorola/STMicroelectronics/Philipsqui ont réalisé des démonstrateurs de 4 et 16 Mbitet annoncé la production pour 2005. Aux faiblesdensités d’intégration, cette technologie fonction<strong>ne</strong>bien, mais il est de plus en plus difficile de réaliser despoints mémoires présentant le même champ de retour<strong>ne</strong>mentde l’aimantation aux petites dimensions,ce qui va rapidement poser des problèmes d’erreursd’écriture. Pour résoudre cette <strong>que</strong>stion, le <strong>CEA</strong>travaille sur deux nouvelles approches.Écriture assistée thermi<strong>que</strong>mentou renversement d’aimantation par courantpolarisé en spin<strong>La</strong> première consiste en u<strong>ne</strong> écriture assistée thermi<strong>que</strong>ment.Le principe consiste à faire passer uncourant à travers le point mémoire pendant l’écriture,ce qui a pour effet de l’échauffer par effet Joule.Or, dans les matériaux magnéti<strong>que</strong>s, d’u<strong>ne</strong> façongénérale, le champ permettant le renversement del’aimantation diminue avec l’accroissement de latempérature, car l’activation thermi<strong>que</strong> assiste leretour<strong>ne</strong>ment.Cet échauffement permet donc d’écrirele point adressé avec un champ plus faible et doncmoins de ris<strong>que</strong>s de commutation accidentelled’autres points mémoires. Cette technologie a faitl’objet de plusieurs brevets <strong>CEA</strong> et u<strong>ne</strong> jeu<strong>ne</strong> entreprise,Crocus Technology, a été créée pour la développer, seproposant à terme de produire des TAS-MRAM(Thermally Assisted Switching-MRAM).<strong>La</strong> deuxième approche repose sur un phénomè<strong>ne</strong>découvert très récemment: le renversement d’aimantationinduit par un courant polarisé en spin.Un métalferromagnéti<strong>que</strong> constitue u<strong>ne</strong> source d’électronsbjonctions tun<strong>ne</strong>lFigure 3.Principe de fonction<strong>ne</strong>mentd’u<strong>ne</strong> MRAM de premièregénération. L’écriture estassurée par l’envoi simultanéde deux impulsions de courantdans les deux lig<strong>ne</strong>sconductrices perpendiculaires(lig<strong>ne</strong> de bit et lig<strong>ne</strong> de mot quise croisent au niveau du pointà adresser).CLEFS <strong>CEA</strong> - N° 52 - ÉTÉ 2005 11