Structure des Matériaux Partie III, Diffraction - IUT Annecy

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$Diffraction des rayons X par la matière ordonnée - IUT Annecy$

Les intensités diffractées dépendent du contenu de la maille.Structure des Matériaux 2011 – IUT Annecy – Mesures Physiques PG – Partie III 79
Comme nous l’avons vu, les conditions de Laue nous ramènent à la loide Bragg :λ = 2d hkl sinθSystème monocliniquesin 2 θ = (λ 2 /4) [h 2 /(a 2 sin 2 β) + k 2 /b 2 + l 2 /(c 2 sin 2 β) – 2hlcosβ/(acsin 2 β)]Système orthorhombiquesin 2 θ = (λ 2 /4) [h 2 /a 2 + k 2 /b 2 + l 2 /c 2 ]Système tétragonalsin 2 θ = (λ 2 /4) [(h 2 + k 2 )/a 2 + l 2 /c 2 ]Système hexagonalsin 2 θ = (λ 2 /3a 2 ) (h 2 + hk + k 2 ) + (λ 2 /4c 2 ) l 2Système cubiquesin 2 θ = (λ 2 /4a 2 ) (h 2 + k 2 + l 2 )Indexer un diffractogramme, c’est attribuer à chaque pic d’intensitéune valeur de d (ce qui est facile avec la relation de Bragg) maiségalement trouver les indices de Laue h, k et l correspondants.Lorsque la structure cristallographique est connu, ceci est immédiat.En revanche trouver les d hkl donc la maille d’un composé dont onignore la structure est bien plus délicat. On y parvient sans difficultédans le cas d’une structure cubique par une méthode simple. Pour lesmailles tétragonales, orthorhombiques ou hexagonales de petite taille,on y parvient avec de l’expérience.Il existe des logiciels d’indexation automatique reposant sur différentsalgorithmes e.g. Treor, Dicvol, ITO (http://sdpd.univ-lemans.fr/DU-SDPD/iniref/tutorial/indexf.html). Les résultats ne sont pas garantis etdépendent en grande partie de la qualité des données, en particulier laprécision sur les valeurs de 2θ.Structure des Matériaux 2011 – IUT Annecy – Mesures Physiques PG – Partie III 80
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