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Structure des Matériaux Partie III, Diffraction - IUT Annecy

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La formule de Scherrer (taille <strong>des</strong> cristallites)Un cristal parfait au sens de la diffraction serait infini dans les troisdirections de l’espace. Aucun cristal n’est donc parfait en raison de sataille finie. Les pics de diffraction s’élargissent à mesure que la taille<strong>des</strong> cristallites diminue (en général sous ≅ 500 nm).La relation de Scherrer relie la taille moyenne <strong>des</strong> cristallites avec lalargeur d’un pic situé à un angle 2θ :Kλt =B cosθt est la taille moyenne <strong>des</strong> cristallitesK une constante entre 0.87 et 1 (en général 1)B size la largeur du pic, soit la largeur à mi-hauteur (LMH) ou lalargeur intégrale (aire sous le pic divisé par la hauteur du pic)déterminée par :B size = B obs – B inst or B² size = B² obs – B² instB inst est la largeur instrumental, mesurée avec une poudre dont lesgrains ont une taille supérieure à 500 nm.Elargissement <strong>des</strong> pics dû à la déformation élastiqueEn prenant la différentielle logarithmique de la relation de Bragg :B strain = ∆θ = (∆d/d ) tanθ = ε tanθ∆d/d = déformation élastiqueSi on tient compte <strong>des</strong> deux élargissements :B size + strain = B size + B strain = Kλ/(t cosθ) + ε tanθLes principales applications de la diffraction sur poudre sont :- la détermination précise <strong>des</strong> paramètres de maille,- l'identification <strong>des</strong> composés inconnus,- l’identification et la quantification de phases connues dans unmélange- la mesure de la taille <strong>des</strong> grains,- la mesure <strong>des</strong> déformations élastiques internes.<strong>Structure</strong> <strong>des</strong> <strong>Matériaux</strong> 2011 – <strong>IUT</strong> <strong>Annecy</strong> – Mesures Physiques PG – <strong>Partie</strong> <strong>III</strong> 81

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