View - JUWEL - Forschungszentrum Jülich
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32 2 Grundlagen<br />
__________________________________________________________________________________________<br />
nes elektrischen Feldes entlang der oder quer zur Oxidschicht, bzw. der Bildung von Hohlräumen<br />
oder der Chemisorption [136].<br />
2.4.3 Bestimmende Prozesse der NiO-Reduktion<br />
Die Reduktion von NiO wird als zweistufiger Prozess beschrieben [141-147].<br />
''<br />
Im NiO-Gitter liegen Nickel-Fehlstellen als Schottky DefekteVNi<br />
vor. Aus Gründen der<br />
Ladungskompensation bilden sich trivalente Nickel-Kationen oder Elektronenlöcher [41,148].<br />
'' <br />
Ni 1<br />
2O2 <br />
NiO VNi 2h<br />
(2.28)<br />
Die Reduktion wird durch die Chemisorption, d. h. durch eine Adsorption von H 2 in einer<br />
dünnen Grenzschicht der NiO Oberfläche durch starke chemische Bindungen initiiert [142]<br />
gemäß<br />
<br />
2 H<br />
2<br />
2h <br />
H<br />
ads<br />
(2.29)<br />
<br />
1<br />
, g<br />
b<br />
Die adsorbierten Wasserstoff Spezies erzeugen im Verlauf der Chemiesorption Elektronen in<br />
der Grenzschicht:<br />
H<br />
<br />
H<br />
e<br />
'<br />
1 2<br />
2, g<br />
ads b<br />
(2.30)<br />
Es entsteht ein p-n-Übergang zwischen der Grenzschicht und der inneren NiO-Phase.<br />
Der Induktionsschritt ist bestimmt durch die Besetzung von Nickel-Fehlstellen, die Reaktionsrate<br />
ist sehr klein [145]. Es entstehen Nickel-Keime an der NiO-Partikeloberfläche. Über<br />
die Reaktionen<br />
H<br />
2<br />
2 (2.31)<br />
'' <br />
, g<br />
VNi<br />
hb<br />
<br />
NiO<br />
H<br />
2Og<br />
<br />
Ni<br />
''<br />
'<br />
H<br />
2,<br />
g<br />
VNi<br />
NiO<br />
H<br />
2Og<br />
<br />
2 eb Ni<br />
(2.32)<br />
werden weitere Nickel-Fehlstellen besetzt, bis das chemische Potential von Nickel in der<br />
Grenzschicht den gleichen Wert wie im Nickel-Keim erreicht. Dann erst kann an der NiO-<br />
Oberfläche weitere spontane Nickel-Keimbildung auftreten. Das Wachstum dieser Keime<br />
konnte durch in-situ Untersuchungen mittels Transmissionselektronenmikroskop (TEM) beobachtet<br />
werden [149,150]. Nach dem Induktionsschritt erhöht sich die Reduktionsrate stark,<br />
was auf den autokatalytischen Effekt der Nickel-Keime zurückzuführen ist [143-145]. Einfach<br />
positiv geladene Wasserstoffionen werden über Zwischengitterplätze des Nickel-Gitters oder<br />
kleine Poren zur Grenzfläche Nickel/NiO befördert [41,145]. Gleichzeitig wird Sauerstoff aus<br />
dem NiO-Gitter durch die Nickel-Schicht zur Oberfläche transportiert, wo er mit Wasser-stoff<br />
reagiert [142,145,151]. Die NiO-Reduktion schreitet an der Grenzfläche zwischen zuvor<br />
reduziertem Nickel und NiO voran. Bei Temperaturen zwischen 200 und 600°C ist die Reaktionsrate<br />
hoch und bestimmt durch die Prozesse an der Grenzfläche. Die Aktivierungsenergie<br />
beträgt 85-90 kJmol -1 . Bei höheren Temperaturen treten Sintereffekte am porösen Nickel auf,<br />
wodurch der Zugang der Wasserstoffspezies zur Metall-Oxid-Grenzschicht behindert wird