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Das Elektronik-Magazin von WETEC Ausgabe 13 - Winter 2014
Das Elektronik-Magazin von WETEC
Ausgabe 13 - Winter 2014
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Interview mit Michael Kuttig<br />
„Testability schon<br />
bei der Entwicklung<br />
berücksichtigen!“<br />
Immer auf der<br />
Suche nach<br />
Optimierungsmöglichkeiten:<br />
Michael Kuttig<br />
und sein Team<br />
haben die Studie<br />
zur Testabdeckung<br />
vorgelegt.<br />
Herr Kuttig, was hat Sie bewogen, die Studie zu<br />
Testverfahren und deren Abdeckung durchzuführen?<br />
Tests werden in der Elektronikfertigung immer wichtiger.<br />
Dementsprechend wächst das Angebot an<br />
Maschinen und Dienstleistungen für diesen Bereich.<br />
Aber es gab bisher kaum Möglichkeiten, dieses<br />
Angebot zu bewerten und einzuordnen. Das wollten<br />
wir ändern.<br />
Ihre Studie geht von einer virtuellen Baugruppe aus,<br />
also im Prinzip von einem fertigen Produkt. Können<br />
Elektronikfertiger schon bei der Entwicklung etwas<br />
tun, um die Testergebnisse zu verbessern?<br />
Ja, es gibt zwei wichtige Faktoren. Zum einen liegt<br />
in der Praxis der Fokus bei der Entwicklung meistens<br />
zunächst auf der Funktionalität, die Testability wird<br />
dabei höchstens am Rande berücksichtigt. Hier sollte<br />
ein Umdenken stattfinden, damit später bei steigenden<br />
Stückzahlen nicht aufwendig ein Test nachentwickelt<br />
werden muss. Zum anderen ist eine funktionierende<br />
und zuverlässige Materiallogistik aufzubauen. Wird<br />
schon bei der Bereitstellung gewährleistet, dass möglichst<br />
viele richtige Bauteile zugeführt und vor allem<br />
die Nebenspezifikationen eingehalten werden, ist eine<br />
wesentliche Fehlerquelle ausgeschaltet.<br />
Was empfehlen Sie, um eine optimale Testabdeckung<br />
zu erreichen?<br />
Die optimale Testabdeckung ist immer vom konkreten<br />
Einzelfall abhängig und muss unter Berücksichtigung<br />
der vorliegenden Parameter ermittelt werden. Unsere<br />
Studie hat aber ergeben, dass man im Allgemeinen mit<br />
einer Kombination aus AOI, MOI und FPT aus ökonomischer<br />
und qualitativer Sicht ein sehr gutes Testergebnis<br />
erreicht.<br />
Was sind die konkreten Vorteile dieser Kombination?<br />
Vor allem die hohe Testabdeckung von 94 Prozent bei<br />
überschaubaren Kosten. Selbst die Kombination aller<br />
zur Verfügung stehender Testverfahren kommt nur<br />
auf eine um zwei Prozentpunkte höhere Abdeckung.<br />
Hinzu kommt, dass die von uns ermittelte Kombination<br />
fertigungsbegleitend durchgeführt werden kann und<br />
gleichzeitig reproduzier- und dokumentierbar ist. Auch<br />
der Aufwand zur Erstellung des Prüfprogramms ist nicht<br />
sonderlich hoch.<br />
Vielen Dank für das Gespräch!<br />
Text: Volker Neumann, Kuttig Electronic, Fotos: Kuttig Electronic<br />
Electronic Repair Center<br />
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Die RTC Solutions steht dafür, Prozesse und Strukturen bei Unternehmen zu analysieren und<br />
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sind seit über 50 Jahren unsere Kernkompetenz. Mit 15 Standorten (D und NL) sind<br />
wir bestens aufgestellt, um regional und flexibel für Sie einsatzfähig zu sein.<br />
»Für einen Großkunden konnten wir<br />
in einem engen Zeitkorridor, SMD Bauteile<br />
austauschen und modifizieren.«<br />
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