deuteronr - Deuteron GmbH
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© 2008 DEUTERON <strong>GmbH</strong><br />
Verwendete Abkürzungen:<br />
1K Ein-Komponenten (Lack)<br />
2K Zwei Komponenten (Lack)<br />
DIY Do It Yourself<br />
EVA Ethylen-Vinylacetat<br />
HS High Solid / Lacke mit hohem Festkörper - wenig Lösemittel<br />
PMH Polymethylharnstoff / Organische-Poly-Methyl-Harnstoff-Mattierungsmittel<br />
PE Polyethylen<br />
PTFE Polytetrafluoretylen (Teflon)<br />
PP Polypropylen<br />
RE Reflektionseinheiten bei der Glanzmessung<br />
REM Rasterelektronenmikroskop<br />
Rz Maximale Rauheitsprofilhöhe aus dem Tastschnittverfahren (DIN EN ISO 4287)<br />
Bzw. gemittelte Rauhtiefe nach DIN 4768<br />
Rt Gesamthöhe des Rauheitsprofils (DIN EN ISO 4287)<br />
SW Schwarz-Weiß<br />
Firmen:<br />
Hommel Etamic <strong>GmbH</strong><br />
www.hommel-etamic.de<br />
Dhs Dieterman & Heuser Solution <strong>GmbH</strong><br />
www.dhssolution.de<br />
Fritsch <strong>GmbH</strong><br />
www.fritsch.de<br />
BYK-Gardner <strong>GmbH</strong><br />
www.byk.com/instruments<br />
Brookfield <strong>GmbH</strong><br />
www.brookfield-gmbh.de<br />
DEUTERON R<br />
DEUTERON ® ist eingetragenes Warenzeichen der DEUTERON <strong>GmbH</strong><br />
PERGOPAK ® ist eingetragenes Warenzeichen der ALBEMARLE martinswerk Corporation<br />
V01.015018
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