Rastertunnelmikroskopie an epitaktischen Eisenschichten auf MgO ...

5 Messergebnisse 5.1 Voruntersuchungen an HOPG
Ecke ist ein hexagonales Gitter an die Messwerte angenähert worden, um die Symmetrie
zwischen x-Richtung und y-Richtung zu untersuchen. Dies ergibt, dass ein
Gitter mit einer Gitterkonstante von ca. 2,7˚A sich gut auf die Messdaten abbilden
lässt. Da diese Methode nicht sehr genau ist, wurde ein Höhenprofil durch eine Reihe
von Potentialhügeln gelegt, um die Abstände zu messen. Das Höhenprofil zu der
Linie in Abbildung (5.1) ist in Abbildung (5.2) dargestellt. Aus dem Höhenprofil
geht ein mittlerer Atomabstand von 3˚A in Richtung der Linie hervor. Der Fehler
durch Ungenauigkeit beim ablesen wird mit 0,2˚A angenommen. Dieses Verfahren
Z[˚A]
3.5
3
2.5
2
1.5
1
0.5
0
0
0.5
Abstand
1
X[nm]
Abbildung 5.2: HOPG 5x5nm Höhenprofil aus Abbildung (5.1)
wurde für alle drei Richtungen entlang der Potentialhügel durchgeführt. Die Gitterabstände
werden also mit (3.0±0,2)˚A , (2,7±0,2)˚A und (2,9±0,2)˚A bestimmt.
Dies entspricht einem mittleren Fehlern 17% . Der Fehler in den Messbereichen von
2x2nm und 1x1nm ist kleiner und liegt bei ca. 12%. Die STM-Messungen für diese
Bereich sind in Abbildung (5.3) und Abbildung (5.4) dargestellt.
Die Genauigkeit des Messgerätes ist für Messbereiche größer als 5x5nm ausreichend.
29
1.5
2
2.5