Rastertunnelmikroskopie an epitaktischen Eisenschichten auf MgO ...

5.3 Eisen auf MgO(100) 5 Messergebnisse
Häufigkeit
5.3.3 Probe 3
12000
10000
8000
6000
4000
2000
-0
-0
0.5
1
1.5
2
Topologie [nm]
2.5
Abbildung 5.18: Rauheitsanalyse von Abbildung (5.16).
Vor dem Aufdampfen wurde das Substrat von Probe 3 auf eine Temperatur 200 ◦ C
erhitzt. Diese Temperatur wurde während des Aufdampfens der Eisenschicht konstant
gehalten. Der Verdampfer wurde mit einer Leistung von 32W betrieben. Nach
dem Abkühlen der Probe erfolgte eine STM-Messung. Die Strukturen der Oberfläche,
die in Abbildung (5.19) gezeigt sind, bestehen aus eckigen Clustern. Die
meistenClusterhabenKanten,dieparallelzudenKantenandererClusterorientiert
sind. Das Höhenprofil in Abbildung (5.20) zeigt dennoch eine deutliche Trennung
der einzelnen Cluster.
InderMessung,dieinAbbildung(5.21)dargestelltist,wirdmitHilfevonHöhenlinien
die Terrassenstruktur der Cluster veranschaulicht. In Höhenprofil in Abbildung
(5.22) wurden im Abstand der halben Gitterkonstante von Eisen Hilfslinien eingezeichnet
um hervorzuheben, dass es sich um einzelne Atomlagen handelt, die von
der elektronische Struktur der Oberfläche repräsentiert werden. Der halbe Gitterabstand
begründet sich darauf, dass Eisen eine bcc-Struktur besitzt, so dass der
Lagenabstand bei Eisen der halben Gitterkonstante 1
2 aFe = 1,4333˚A entspricht.
Auch hier lässt sich die Cluster-Breite durch die bekannte Vorgehensweise zu
15,6nmbestimmen.DieRauheitderOberflächeausAbbildung(5.23)beträgtRRMS =
0,330nm.
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