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Rastertunnelmikroskopie an epitaktischen Eisenschichten auf MgO ...

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2 Theoretische Grundlagen 2.1 <strong>Rastertunnelmikroskopie</strong><br />

denTr<strong>an</strong>smissionskoeffizientenT beschrieben.DiesersetztsichausdemBetragsquadrat<br />

des Quotienten von getunnelter und einfallender Wellenenfunktion zusammen<br />

zu<br />

� �2<br />

�A3�<br />

T(E) ≡ � �<br />

� � . (2.5)<br />

Mit der Näherung k2z ≫ 1 für übliche Tunnelparameter ergibt sich als Tr<strong>an</strong>smissionskoeffizient<br />

A1<br />

T ≈ 16k2 1k 2 2<br />

(k 2 1 +k 2 2) e−2k2z . (2.6)<br />

Ausgehend von diesem einfachen Modell können einige grundlegende Eigenschaften<br />

von Metall-Vakuum-Metall-Tunnelübergängen <strong>an</strong>h<strong>an</strong>d von Abbildung (2.1) erklärt<br />

werden. Die Austrittsarbeit φ von Metalloberflächen ist definiert als die minimale<br />

Energie, die benötigt wird, um ein Elektron aus dem Festkörper in das Vakuumniveauherauszulösen.NormalerweisehängtdieAustrittsarbeitnichtnurvomMaterial<br />

ab, sondern unter Anderem von der Kristallstruktur und der thermischer Anregung.<br />

Nimmt m<strong>an</strong> das Vakuumniveau als Referenz <strong>an</strong>, d<strong>an</strong>n gilt für die Fermi-Energie<br />

EF = −φ . Um die Betrachtung zu vereinfachen, wird die Austrittsarbeit von Probe<br />

und Messspitze als identisch <strong>an</strong>genommen. Für Metalle gilt näherungsweise eine<br />

Austrittsenergie von φ ≈ 5eV.<br />

Liegt zwischen Spitze und Probe eine Sp<strong>an</strong>nung V <strong>an</strong>, wird ein Tunnelstrom <strong>an</strong>geregt.<br />

Ein elektronischer Zust<strong>an</strong>d ψn mit der Energie En zwischen EF −eV und EF<br />

hat d<strong>an</strong>n eine erhöhte Wahrscheinlichkeit, durch den Potentialwall zur Messpitze zu<br />

tunneln. Die Energiezustände von Interesse befinden sich nahe dem Fermi-Niveau,<br />

deshalbisteswichtig,dassdieTunnelsp<strong>an</strong>nungvielkleineristalsdieAustrittsarbeit<br />

eV ≪ φ.<br />

EF<br />

ψn φ<br />

Probe<br />

eV<br />

En<br />

0 z<br />

Vakuumniveau<br />

Spitze<br />

Abbildung 2.1: 1D Metall-Vakuum-Metall-Tunnelüberg<strong>an</strong>g. Wird zwischen Probe und Spitze eine<br />

Sp<strong>an</strong>nung eV <strong>an</strong>gelegt, hat der elektronische Zust<strong>an</strong>de ψn hat eine erhöhte Wahrscheinlichkeit<br />

durch den Potentialwall zu tunneln.<br />

5<br />

EF

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