GaN パワーデバイス - POWDEC パウデック
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<strong>GaN</strong>電子デバイス<br />
ー実用化への未解決問題ー<br />
I. 信頼性<br />
電流コラプス<br />
耐量<br />
長期信頼性<br />
II.コスト<br />
基板<br />
結晶成長<br />
プロセス(素子構造)<br />
デバイス構造の変革による<br />
アプローチ<br />
結晶成長の変革による<br />
アプローチ<br />
NEエレクトロニクス-セミナー- “<strong>GaN</strong><strong>パワーデバイス</strong>” 2011/11/08, 化学会館 <strong>POWDEC</strong> K.K.
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