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Estudo dos mecanismos de degradação em revestimentos PVD ...

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Breve <strong>de</strong>scrição das técnicas <strong>de</strong> <strong>de</strong>posição, caracterização e análise <strong>dos</strong> <strong>revestimentos</strong><br />

_________________________________________________________________________________________________________________<br />

1.2 – Técnicas <strong>de</strong> Caracterização e Análise<br />

1.2.1 - Espectrometria <strong>de</strong> Retrodispersão <strong>de</strong> Rutherford (RBS) [1]<br />

Esta técnica experimental é utilizada para <strong>de</strong>terminar a composição das amostras. Para<br />

a maior parte <strong>dos</strong> casos é uma técnica que po<strong>de</strong> ser consi<strong>de</strong>rada não <strong>de</strong>strutiva. Ao<br />

bombar<strong>de</strong>ar a amostra com núcleos leves <strong>de</strong> alta energia (0.5 a 3 MeV), uma pequena fracção<br />

das partículas inci<strong>de</strong>ntes coli<strong>de</strong>m com núcleos <strong>de</strong> átomos da amostra e são retrodifundi<strong>dos</strong>.<br />

Este facto é <strong>de</strong>vido à repulsão coulombiana entre os núcleos que, do ponto <strong>de</strong> vista da<br />

mecânica clássica, po<strong>de</strong> ser analisada como um uma colisão elástica. A energia das partículas<br />

retrodifundidas num <strong>de</strong>terminado ângulo é usada para <strong>de</strong>terminar a massa <strong>dos</strong> átomos alvo. A<br />

<strong>de</strong>tecção e a análise da distribuição <strong>de</strong> energias das partículas retrodifundidas permite obter<br />

uma composição quantitativa e <strong>em</strong> profundida<strong>de</strong> da amostra.<br />

Para analisar a composição das amostras (<strong>de</strong>positadas sobre aço inoxidável AISI 316)<br />

usou-se feixe <strong>de</strong> iões He + criado por um acelerador <strong>de</strong> iões do tipo Van De Graaff. Sendo a<br />

profundida<strong>de</strong> <strong>de</strong> análise permitida por esta técnica entre cerca <strong>de</strong> 100 e 1000 nm, permite-nos<br />

obter informação sobre a composição <strong>dos</strong> <strong>revestimentos</strong>.<br />

1.2.2 - Espectroscopia <strong>de</strong> Raios-X por Dispersão <strong>de</strong> Energia (EDX) [2]<br />

Quando um átomo é bombar<strong>de</strong>ado com electrões <strong>de</strong> alta energia (10 a 50 keV),<br />

produz<strong>em</strong>-se raios-X provoca<strong>dos</strong> pela r<strong>em</strong>oção <strong>de</strong> electrões <strong>de</strong> níveis <strong>de</strong> energia internos<br />

<strong>de</strong>sse átomo. As lacunas criadas vão ser ocupadas por electrões <strong>de</strong> níveis externos que, ao se<br />

<strong>de</strong>sexcitar<strong>em</strong>, <strong>em</strong>it<strong>em</strong> radiação-X com energia igual à diferença <strong>de</strong> energia entre os níveis <strong>de</strong><br />

partida e chegada. Estes fotões são característicos para cada el<strong>em</strong>ento e, ao medir a sua<br />

energia, po<strong>de</strong> obter-se informação sobre a composição da amostra.<br />

Este processo dá, <strong>de</strong> um modo geral, uma informação qualitativa da composição, mas<br />

é possível obter informação quantitativa usando uma referência. A profundida<strong>de</strong> <strong>de</strong> análise<br />

varia entre cerca <strong>de</strong> 50 e 2000 nm, po<strong>de</strong>ndo ser um pouco superior e o volume analisado é da<br />

or<strong>de</strong>m <strong>de</strong> 1 µm 3 . A superfície das amostras a analisar <strong>de</strong>ve ser plana e polida. Esta técnica só<br />

permite <strong>de</strong>tectar el<strong>em</strong>entos a partir do Boro.<br />

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