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Estudo dos mecanismos de degradação em revestimentos PVD ...

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Breve <strong>de</strong>scrição das técnicas <strong>de</strong> <strong>de</strong>posição, caracterização e análise <strong>dos</strong> <strong>revestimentos</strong><br />

_________________________________________________________________________________________________________________<br />

2 dhkl sen θ = n λ (1. 3)<br />

sendo n a or<strong>de</strong>m da difracção. A variação do ângulo <strong>de</strong> incidência do feixe sobre a amostra<br />

permite a <strong>de</strong>tecção <strong>dos</strong> picos referentes aos planos cristalinos presentes na amostra.<br />

As amostras foram estudadas num difractómetro com arranjo θ-2θ acoplado (sist<strong>em</strong>a<br />

tradicional para amostras <strong>em</strong> pó), no qual quando a amostra roda <strong>de</strong> um ângulo θ, o <strong>de</strong>tector<br />

roda simultaneamente 2θ. Obtiveram-se padrões <strong>de</strong> difracção no intervalo 30º

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