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Estudo dos mecanismos de degradação em revestimentos PVD ...

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Breve <strong>de</strong>scrição das técnicas <strong>de</strong> <strong>de</strong>posição, caracterização e análise <strong>dos</strong> <strong>revestimentos</strong><br />

_________________________________________________________________________________________________________________<br />

Esta técnica consiste na incidência <strong>de</strong> pulsos laser sobre a superfície da amostra, que<br />

provocam ondas mecânicas que são <strong>de</strong>tectadas por um transdutor piezoeléctrico (ver figura<br />

1.8). O <strong>de</strong>caimento das ondas está relacionado com o espaço que a onda percorre entre o<br />

ponto on<strong>de</strong> ocorre a excitação e o ponto <strong>de</strong> <strong>de</strong>tecção. A profundida<strong>de</strong> <strong>de</strong> penetração das ondas<br />

é <strong>de</strong>pen<strong>de</strong>nte da sua frequência [30]. Para filmes finos será necessário usar altas frequências,<br />

<strong>de</strong> modo a que a penetração seja reduzida, minimizando a possibilida<strong>de</strong> do substrato<br />

influenciar a informação obtida.<br />

A velocida<strong>de</strong> <strong>de</strong> propagação das ondas <strong>de</strong> superfície num meio isotrópico é dada por<br />

[32]:<br />

0. 87 + 1.<br />

12υ<br />

E<br />

c =<br />

(1. 16)<br />

1+<br />

υ 2ρ<br />

( 1+<br />

υ)<br />

<strong>em</strong> que E é o módulo <strong>de</strong> Young, ν a razão <strong>de</strong> Poisson e ρ a <strong>de</strong>nsida<strong>de</strong> do material testado.<br />

Num sist<strong>em</strong>a revestimento/substrato esta velocida<strong>de</strong> <strong>de</strong>pen<strong>de</strong> do módulo <strong>de</strong> Young, da<br />

razão <strong>de</strong> Poisson e da <strong>de</strong>nsida<strong>de</strong> do revestimento e do substrato, mas também da espessura do<br />

revestimento (tc) e do comprimento <strong>de</strong> onda. Esta <strong>de</strong>pendência po<strong>de</strong> ser <strong>de</strong>scrita pela relação<br />

<strong>de</strong> dispersão [30]:<br />

ω<br />

c = = c(<br />

Ec,<br />

Es,<br />

υc<br />

, υs<br />

, ρc<br />

, ρs<br />

, tc<br />

k<br />

λ)<br />

(1. 17)<br />

sendo ω a frequência angular e k o vector <strong>de</strong> onda.<br />

Laser<br />

Amostra<br />

Mesa x-y<br />

Espelho<br />

Transdutor piezo.<br />

Osciloscópio digital<br />

Figura 1.8 - Representação esqu<strong>em</strong>ática do equipamento <strong>de</strong> ondas superficiais [30].<br />

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