02.12.2012 Views

Sayi9kasimaralik

Sayi9kasimaralik

Sayi9kasimaralik

SHOW MORE
SHOW LESS

Create successful ePaper yourself

Turn your PDF publications into a flip-book with our unique Google optimized e-Paper software.

Kasım-Aralık 2012 Yıl : 2 Sayı : 9<br />

olacaktır. Rassallık testleri ve sonuçları detaylı olarak<br />

Soto ve Bassham’ın makalesinde [2] incelenmektedir<br />

[1,2,3,8].<br />

AES yarışmasında kullanılan rassallık testleri, NIST’in<br />

İstatistiki Test Süitine dayanmaktaydı [3]. Bu süit 16<br />

esas testten ve bu esas testlerin farklı parametreler<br />

ile çalıştırılması ile toplam 189 farklı testten oluşmaktadır.<br />

Tablo 1’de esas testlerin isimlerini, P değerleri<br />

ve test tanımlama sayısı takip etmektedir.<br />

Tablo 1 - NIST İstatistiki Test Süiti [2]<br />

İstatistiki Test P değeri sayısı Test No<br />

Monobit<br />

1<br />

1<br />

Block Frequency<br />

1<br />

2<br />

Cusum<br />

2<br />

3-4<br />

Runs<br />

1<br />

5<br />

Long Runs of Ones<br />

1<br />

6<br />

Rank<br />

1<br />

7<br />

Spectral DFT<br />

1<br />

8<br />

Aperiodic Templates<br />

148<br />

9-156<br />

Periodic Template<br />

1<br />

157<br />

Universal Statistical<br />

1<br />

158<br />

Approximate Entropy<br />

1<br />

159<br />

Random Excursions<br />

8<br />

160-167<br />

Random Excursions Variant<br />

18<br />

168-185<br />

Serial<br />

2<br />

186-187<br />

Lempel-Ziv Compression<br />

1<br />

188<br />

Linear Complexity<br />

1<br />

189<br />

NIST test süitinde bulunan 16 esas testi kısaca tanımlayacak<br />

olursak:<br />

l Monobit Test: Üretilen seride bulunan 0 ve 1 sayısının<br />

yaklaşık olarak birbirine eşit olup olmadığının<br />

testi.<br />

l Block Frequency Test: Tüm üretilen seri kesişmeyen<br />

N parçaya ayrıldıktan sonra, her bir parçadaki<br />

0 ve 1’lerin rassal bir dağılımı olup olmadığının<br />

testi. (eğer N=1 o zaman monobit test’le aynı<br />

olur)<br />

l Cumulative Sums Forward (Reverse) Test: Seriyi<br />

oluşturan alt serilerin 0-1 toplamının çok yüksek<br />

ARAŞTIRMA<br />

İNCELEME<br />

veya çok düşük olup olmadığının kontrolü.<br />

l Runs Test: Farklı uzunluklardaki 0 veya 1 serilerine<br />

dayanarak, bu alt seriler arasındaki salınımın<br />

(oscilation) çok hızlı veya çok yavaş olduğunu<br />

ölçmektedir.<br />

l Long Runs of Ones Test: Üretilen serideki en uzun<br />

1 serisinin teorik değerlere uyup uymadığının testi.<br />

Burada beklenen değerden fark rassal olmadığına<br />

işarettir.<br />

l Rank Test: Üretilen seriden elde edilen parça seriler<br />

arasında doğrusal bağımlılık olup olmadığının<br />

testi.<br />

l Discrete Fourier Transform (Spectral) Test: Üretilen<br />

seride periyodik tekrarların var olup olmadığının<br />

testi. Bu şekilde bir periyodik tekrarın olması<br />

serinin rassal olmadığı anlamına gelir<br />

l Aperiodic Templates Test: Periyodik olmayan<br />

(aperiyodik) belli bir kalıbın çok defa gözüküp gözükmediğinin<br />

testi. Böyle bir kalıbın çok gözükmesi,<br />

serinin rassal olmadığına işarettir.<br />

l Periodic Template Test: Belli bir uzunluktaki 1<br />

serisinin, üretilmiş seri içinde tahmini gözükme<br />

oranı ile gösterdiği farklılığının hesaplanması. Bu<br />

testte yüksek farklılık, serinin rassal olmadığına<br />

işarettir.<br />

l Universal Statistical Test: Bilgi kaybı olmadan<br />

üretilmiş serinin ne kadar sıkıştırılabileceğinin<br />

testi. Çok sıkıştırılabilen seriler rassal değildir.<br />

l Approximate Entropy Test: Ardışık iki uzunluğa<br />

(m ve m+1) sahip serilerde üst üste düşen blok<br />

parçacıklarının frekansının hesaplanması.<br />

l Random Excursion Test: Seri içinde yapılacak<br />

rassal bir yürüyüşle ulaşılacak durumların oranını<br />

ölçen test.<br />

l Random Excursion Variant Test: Seri içinde yapılacak<br />

rassal bir yürüyüşle ulaşılacak durumlar<br />

arasındaki değişimi ölçen test.<br />

l Serial Test: m-bit’lik üstüste düşen kalıpların sayısının<br />

seri içinde gözükme oranı.<br />

l Lempel-Ziv Complexity Test: Üretilmiş serinin ne<br />

kadar sıkıştırılabileceğinin testi. Büyük ölçüde sıkıştırılabilen<br />

seriler rassal değildir.<br />

l Linear Complexity Test: Gerçek rassal bir seri olup<br />

olmadığına karar verecek kadar serinin karmaşık<br />

olup olmadığını ölçen test.<br />

Testlerin detaylı açıklamaları ve dayandıkları matematiksel<br />

altyapı NIST’in 2000 yılında yayınlamış ve<br />

2010’da revize etmiş olduğu raporda bulunabilir [3].<br />

AES yarışmasında bu testler, rassal bir şekilde seçilmiş<br />

128 bit’lik anahtarlar ile uygulandı. Her aday algoritmanın<br />

sonuç olarak vermiş olduğu ciphertext’ler<br />

tüm 189 rassallık testi ile kontrol edildi. Yarışmada<br />

300 ikili veri seti kullanıldı. Her bir aday algoritmanın<br />

rassallık testlerinden elde ettiği sonuçlar detaylı bir<br />

şekilde Soto ve Bassham’ın makalesinde verilmektedir<br />

[1,2,8].<br />

Kriptografi uzmanı Borys Pawliw [9], Rijndael algoritmasının<br />

en iyi alternatif olup olmadığı sorusuna<br />

şu şekilde cevap vermektedir: “AES seçimi, etraflı<br />

güvenlik, performans ve etkinlik gibi farklı faktörlerin<br />

dengeleneceği bir uzlaşma olacaktı. Bundan dolayı,<br />

seçilecek olan algoritmanın tüm çevreler tarafından<br />

oybirliği ile övgüler alması beklenmiyordu. Bazı kişiler,<br />

Rijndael algoritmasının diğer birkaç alternatif<br />

kadar güvenli olmamasından dolayı eleştiriler yönelttiler.<br />

Bu yaklaşım her ne kadar teorik olarak geçerli<br />

olsa da, pratikte bu algoritma kullanılarak şifrelenmiş<br />

bir verinin saldırılara karşı zayıf olacağı anlamına gelmemektedir.<br />

Akademik bir bakış açısından Rijndael<br />

en güvenli algoritma olmamasına rağmen, söz konusu<br />

algoritmanın savunucuları gerçek dünyaya ait uygulamaların<br />

hepsi için yeterince güvenli olduğunu ve<br />

gerekirse birkaç şifreleme turu daha eklenerek daha<br />

da güvenli hale getirilebileceğini iddia etmektedirler.<br />

Rijndael algoritmasına saldırıların sadece çok kısıtlı<br />

ortamlarda başarılı olduğu, her ne kadar matematiksel<br />

olarak ilgi çekici olsalar da, gerçek dünyada<br />

önemsiz oldukları düşünülmektedir” [9].<br />

58 59<br />

Kaynakça<br />

[1] Nechvatal J., Barker E., Bassham L., Burr W., Dworkin M., Foti J., Roback E., “Report on the Development of the Advanced Encryption Standard (AES)”, NIST, 2000<br />

[2] Soto J., Bassham L., “Randomness Testing of the Advanced Encryption Standard Finalist Candidates”, NIST, 2000<br />

[3] Rukhin A., Soto J., Nechvatal J., Smid M., Barker E., Leigh S., Levenson M., Vangel M., Banks D., Heckert A., Dray J., Vo S., “A Statistical Test Suite for Random and Pseudorandom<br />

Number Generators for Cryptographic Applications”, NIST, 2000 (Revizyon: 2010)<br />

[4] Gollmann D., “Computer Security”, 2011<br />

[5] http://en.wikipedia.org/wiki/Data_Encryption_Standard<br />

[6] http://en.wikipedia.org/wiki/Advanced_Encryption_Standard<br />

[7] http://searchsecurity.techtarget.com/definition/Advanced-Encryption-Standard<br />

[8] http://en.wikipedia.org/wiki/Randomness_tests<br />

[9] http://searchsecurity.techtarget.com/definition/Rijndael

Hooray! Your file is uploaded and ready to be published.

Saved successfully!

Ooh no, something went wrong!