διερευνηση των παραγοντων

4.1.4.4 Μέθοδος περίθλασης ακτίνων Χ (X‐RAY DIFFRACTION, XRD)
4.1.4.4.1 Γενικά
Οι τεχνικές διάχυσης ακτίνων‐Χ αποτελούν μια ομάδα μη‐καταστρεπτικών μεθόδων
που αποκαλύπτουν πληροφορίες για την κρυσταλλογραφική δομή, τη χημική σύνθεση και
τα φυσικά χαρακτηριστικά υλικών και λεπτών φιλμ. Οι τεχνικές αυτές βασίζονται στην
παρατήρηση της διαχεόμενης έντασης μιας δέσμης ακτίνων που προσπίπτουν πάνω σε ένα
δείγμα ως αποτέλεσμα τυχαίας και διαχωριζόμενης γωνίας, πόλωσης και μήκους κύματος ή
ενέργειας [49].
Η κρυσταλλογραφία Χ‐ακτίνων (X‐Ray Crystallography) αποτελεί μία τεχνική
κρυσταλλογραφίας στην οποία το φάσμα, που παράγεται από την περίθλαση Χ‐ακτίνων,
μέσω του συνεκτικού πλέγματος (closely spaced lattice) των ατόμων σε έναν κρύσταλλο,
καταγράφεται και στη συνέχεια αναλύεται, έτσι ώστε να αποκαλύψει τη φύση αυτού του
πλέγματος (lattice). Οι αποστάσεις σε ένα κρυσταλλικό επίπεδο μπορούν να
προσδιοριστούν με τη χρήση της συνθήκης του Bragg. Τα ηλεκτρόνια τα οποία
περιβάλλουν τα άτομα, παρά οι ατομικοί πυρήνες αυτοί καθ’ εαυτοί, είναι εκείνα τα οποία
αλληλεπιδρούν με τα εισερχόμενα φωτόνια των Χ‐ακτίνων [50].
Η περίθλαση ακτίνων‐Χ από σκόνες είναι μία ευρέως διαδεδομένη μέθοδος που
χρησιμοποιείται για την ποιοτική ανάλυση κρυσταλλικών υλικών (στερεών και σκονών) και
για ποσοτικές μετρήσεις κρυσταλλικών συστατικών συνθέτων υλικών και βρίσκει
εφαρμογή στη βιομηχανία των τσιμέντων, φαρμάκων, κεραμικών, καταλυτών κλπ. [50, 51].
Πιο συγκεκριμένα, αν ακτίνες Χ, πέσουν σε ένα επίπεδο ατόμων με γωνία
πρόσπτωσης θ, οι ακτίνες θα διαπεράσουν τα στρώματα των ατόμων και θα δώσουν την
απεικόνιση τους. Αυτό φαίνεται στα σχήματα, που ακολουθούν [52].
Εικόνα 4.29 Απεικόνιση ακτίνων Χ όταν πέσουν σε ένα επίπεδο ατόμων με γωνία
πρόσπτωσης θ [52]
118