Deutsche Akkreditierungsstelle GmbH Anlage zur ...
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<strong>Anlage</strong> <strong>zur</strong> Akkreditierungsurkunde D-PL-14162-01-00<br />
UAL, UHA,<br />
UMÜ, UWA<br />
DIN 38405-14 (D 14)<br />
1988-12<br />
(A), (TW)<br />
Bestimmung von Cyaniden in Trinkwasser, gering belaste-ten<br />
Grund- und Oberflächenwässern<br />
UAL DIN 38405-21 (D 21)<br />
1990-10<br />
(TW)<br />
Photometrische Bestimmung von gelöster Kieselsäure<br />
UAL ,UHA,<br />
UMÜ, UOP,<br />
UWA<br />
UAL, UHA,<br />
UMÜ, UOP<br />
UAL, UHA,<br />
UOP, UWA<br />
UAL, UHA,<br />
UMÜ, UWA,<br />
UOP<br />
DIN 38405-24 (D 24)<br />
1987-05<br />
(A), (TW)<br />
DIN 38405-26 (D 26)<br />
1989-04<br />
(A)<br />
DIN 38405-27 (D 27)<br />
1992-07<br />
DIN EN ISO 18412 (D 40)<br />
2007-02<br />
(TW)<br />
Photometrische Bestimmung von Chrom (VI) mittels<br />
1,5-Diphenylcarbazid<br />
Photometrische Bestimmung des gelösten Sulfids<br />
Bestimmung von leicht freisetzbarem Sulfid<br />
Wasserbeschaffenheit - Bestimmung von Chrom(VI) -<br />
Photometrisches Verfahren für gering belastetes Wasser<br />
1.4 Kationen<br />
UAL, UHA<br />
UOP<br />
UHA<br />
UAL, UHA,<br />
UOP<br />
UAL, UHA,<br />
UMÜ, UOP,<br />
UWA<br />
UAL, UHA,<br />
UMÜ, UOP<br />
UAL, UHA,<br />
UMÜ, UOP<br />
DIN EN ISO 17294-2 (E 29)<br />
2005-02<br />
(TW)<br />
DIN EN 26595 (D12)<br />
1993-01<br />
DIN 38406-1 (E 1)<br />
1983-05<br />
(TW)<br />
DIN 38406-5 (E 5)<br />
1983-10<br />
(A), (TW)<br />
DIN EN 1483 (E 12)<br />
2007-07<br />
(A), (TW)<br />
DIN EN ISO 11885 (E 22)<br />
2009-09<br />
(A), (TW)<br />
Wasserbeschaffenheit - Anwendung der induktiv gekop-pelten<br />
Plasma-Massenspektrometrie (ICP-MS) - Teil 2: Bestimmung von<br />
62 Elementen<br />
Wasserbeschaffenheit - Bestimmung von Arsen - Photometrisches<br />
Verfahren mit Silberdiethyldithiocarbamat<br />
Bestimmung von Eisen<br />
Bestimmung des Ammonium-Stickstoffs<br />
Wasserbeschaffenheit - Bestimmung von Quecksilber - Verfahren<br />
mittels Atomabsorptionsspektrometrie<br />
Wasserbeschaffenheit - Bestimmung von ausgewählten<br />
Elementen durch induktiv gekoppelte Plasma-Atom-<br />
Emissionsspektrometrie (ICP-OES)<br />
Gültigkeitsdauer: 28.03.2011 bis 28.03.2012 11/114
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