Inhaltsverzeichnis - Prof. Dr. Norbert Wermes

3.1. DER VERSUCHSAUFBAU FÜR TCT-MESSUNGEN 37Abbildung 3.1: Schaltplan für TCT-Messungen an Einkanaldetektorenre Elektrode des Detektors auszulesen, wobei an der externen Hochspannungsversorgungeingestellt werden kann, ob die ausgelesene Elektrode bezüglich des Masseanschlusses aufpositivem oder negativem Potential liegen soll. Damit ist es möglich, sowohl Elektronenalsauch Löchersignale aufzuzeichnen. Die Verbindung zwischen Ausleseplatine und Verstärkerwird über eine SMA-Kupplung hergestellt. Um die durch Streukapazitäten hervorgerufeneBeschränkung der Bandbreite möglichst klein zu halten, sind alle auf der Platineverwendeten Bauteile SMD-Komponenten. Aus dem selben Grund haben alle Leiterbahneneinen Wellenwiderstand von 50Ω, die Unterseite der Platine und auch die Freiräumezwischen den Leiterbahnen sind mit Masseflächen bedeckt.3.1.2 Die Ausleseplatine für die DetektormatrixDie Ausleseplatine für die Detektormatrix, bestehend aus 4 x 4 Pixeln, ist ähnlich aufgebaut,wie die Platine für die Einkanaldetektoren (Abbildung 3.2). Die Hochspannungsversorgungist genauso gefiltert, die Zuführung zum Detektor ist aber leicht anders ausgeführt.Die untersuchten Detektormatrizen wurden vom Hersteller auf einer kleinen Platinemontiert und mit einem Stecker auf der Unterseite der Platine verbunden. Der Steckerbesteht aus 16 Pins in zwei Reihen à 8 Pins, die in eine zugehörige Buchse gesteckt werdenkönnen. Die pixelierte Elektrode befindet sich dabei auf der Unterseite des Kristalls vonaußen nicht sichtbar direkt über der Detektorplatine, während die Oberseite des Kristallsmit einer durchgehenden Elektrode versehen ist. Diese wird durch einen Draht, der mit