Inhaltsverzeichnis - Prof. Dr. Norbert Wermes

60 KAPITEL 3. TCT-MESSUNGENAbbildung 3.24: Mobilität der Elektronen in der CdZnTe-MatrixVom Hersteller der CdZnTe-Matrix wurde das Produkt aus Elektronenlebensdauer und-mobilität (µτ) für diesen Kristall ausgemessen und zu (4-6)·10 −3 cm 2 /V angegeben. Dadieser Wert den durchschnittliche Wert für das Produkt von (3-5)·10 −3 cm 2 /V überschreitet,kann man sowohl für die Mobilität als auch für die Ladungsträgerlebensdauer davonausgehen, dass diese Parameter besser als die durchschnittlichen Werte sind. Man kanndaher von einem „guten“ Kristall sprechen und auch der im Vergleich zum Einkanaldetektorbessere Wert für die Mobilität ist verständlich.Bestimmung des Verlaufs des elektrischen Feldes in der CdZnTe-MatrixUm den Verlauf des elektrischen Feldes in der CdZnTe-Matrix zu bestimmen, kann beiAbbildung 3.25: Verlauf des elektrischen Feldes innerhalb der CZT-Matrix bei zusammengeschaltetenPixeln; die Kathode befindet sich linkszusammen geschalteten Pixeln wieder das in Abschnitt 3.2.4 vorgestellte Verfahren ver-