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Forschungsbericht 2017

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78 Werkstoff- und Oberflächentechnik<br />

Entwicklung eines Simulationsmodells von<br />

Lötnähten zur Beschreibung und Validierung des<br />

Hochtemperaturverhaltens von Lotwerkstoffen<br />

Prof. Dr.-Ing. Ulrich Tetzlaff<br />

Technische Entwicklung im Fahrzeugund<br />

Maschinenbau<br />

Prof. Dr.-Ing. Manuela Waltz<br />

Technische Mechanik und<br />

Mehrkörpersysteme<br />

Prof. Ulrich Tetzlaff und Prof. Manuela Waltz forschen im Kompetenzfeld<br />

Werkstoff- und Oberflächentechnik am Thema Zuverlässigkeit von Lotwerkstoffen<br />

für elektronische Komponenten. Eine besondere Bedeutung<br />

erfährt dieses Thema, da Lotverbindungen in Fahrzeugen immer kleiner und<br />

vielfältiger ausgeführt werden, wodurch unabhängig von der Antriebsart das<br />

Ausfallrisiko steigt. Gleichzeitig fand in den letzten Jahren eine Verkürzung<br />

der Entwicklungsdauer statt, wodurch sich reine Komponentenversuche<br />

nicht mehr als zielführend erweisen, da für jede Änderung des Designs aufwändige<br />

Qualifikationen notwendig werden.<br />

Die THI entwickelte ein Verfahren, Werkstoffkennwerte für die Simulation<br />

von Elektronikkomponenten mit Hilfe von Laborproben zu bestimmen.<br />

Die mit Hilfe von Kriech- und Wöhlerversuchen ermittelten Kennwerte finden<br />

Verwendung in einem Kriech- und Schwingfestigkeitsmodell, die wiederum<br />

FE-Modelle speisen, um das Bauteilverhalten vorherzusagen 1,2 .<br />

a) Haigh Diagramm mit der Verwendung der FKM-Richtlinie; b) Wechselverformungskurve bei<br />

unterschiedlichen Temperaturen; c) Einfluss der Mikrostruktur auf die Rissinitiierung<br />

Development of a simulation model of solder<br />

joints for the description and validation of the<br />

high-temperature behaviour of solder materials<br />

Prof. Dr. Ulrich Tetzlaff and Prof. Dr. Manuela Waltz are<br />

researching the topic of reliability of solder materials for<br />

electronic components in the field of materials science.<br />

This topic is of particular importance as solder joints<br />

in the vehicles are becoming smaller and more varied,<br />

which means that the risk of failure increases regardless<br />

of the type of drive. At the same time, the development<br />

period has been shortened in recent years, which means<br />

that exclusively component tests prove to be no longer<br />

important, since complex component tests are necessary<br />

for every change in design.<br />

THI developed a method to determine the material<br />

parameters for the simulation of solder joints using<br />

laboratory samples. The characteristic values were determined<br />

with creep and fatigue tests for the use in different<br />

models, which feed FE models to predict the component<br />

behaviour 1,2 .<br />

Von besonderem Interesse ist das Ermüdungsverhalten bei hohen<br />

Zyklenzahlen (HCF), da Vibrationen in den Fahrzeugen zu ähnlichen Belastungen<br />

führen. Dabei spielt neben der Untersuchung unterschiedlicher<br />

Lastamplituden und Mittelspannungen auch die Auswirkung unterschiedlicher<br />

Temperaturen und Kerben eine erhebliche Rolle. Eine Beschreibung der<br />

Erkenntnisse über die FKM-Richtlinie für Anwendungen in der Mikroelektronik<br />

wird vorgeschlagen (Abb. a). Aufgrund mikroplastischer und thermisch<br />

aktivierten Prozesse finden während der Anwendung mikrostrukturelle<br />

Vorgänge wie das zyklische Kriechen statt, die die Rissinitiierung beeinflussen<br />

(Abb. a und b). Die Analyse zeigt, dass durch die Subkornbildung<br />

die Rissausbreitung interkristallin verläuft und sich durch Ausscheidungen<br />

verzögert (Abb. c). Die beschriebenen Ergebnisse münden in eine immer<br />

genauere Modellierung des Werkstoff-und Komponentenverhaltens ein und<br />

treiben die Werkstoffentwicklung zur Erhöhung der Zuverlässigkeit voran.<br />

Referenzen:<br />

1<br />

J. Thambi, U. Tetzlaff, A. Schiessl, K.-D. Lang, M. Waltz, High cycle fatigue behaviour and<br />

generalized fatigue model development of lead-free solder alloy based on local stress<br />

approach, Microelectronics Reliability 66, (2016).<br />

2<br />

J. Thambi, A. Schiessl, M. Waltz, K.-D. Lang, U. Tetzlaff, Modified constitutive creep laws with<br />

micro-mechanical modelling of Pb-free solder alloys, Journal of Electronic Packaging, accepted.

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