Informatik 2 - Hochschule Regensburg
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Modulname<br />
Fachbezeichnung<br />
Mess- und Testtechnik<br />
Kurzbezeichnung TT Betroffene Studiengänge BA-EI<br />
Studienabschnitt 2. Modul Nr. 24.1<br />
Letzte Änderung SS 2010 Regelsemester 6.<br />
Sprache Deutsch Verantwortlich Kohlert<br />
Modultyp Pflichtmodul Kreditpunkte 2<br />
Lehrumfang 2 SWS Vor- und Nachbereitung 2 h/Woche<br />
Lehrform<br />
Seminaristischer Unterricht, Übungsanteil 10-15%<br />
Ergänzendes Praktikum Mess- und Teststechnik (PTT): BA-EI, 24.2<br />
Leistungsnachweis<br />
Professoren:<br />
Lehrbeauftragte:<br />
Zugel. Hilfsmittel<br />
für LN<br />
Voraussetzungen<br />
Vorkenntnisse<br />
Angebotene<br />
Lehrunterlagen<br />
Lehrmedien<br />
Lehrinhalte<br />
Lernziele/<br />
Kompetenzen<br />
schriftliche Prüfung, Dauer: 90 min<br />
Kohlert, Schlicht<br />
Taschenrechner, Skripten, Bücher<br />
Mess- und Testtechnik<br />
keine<br />
Lehrinhalte des ersten Studienabschnitts<br />
Skript, Übungen, Literaturliste<br />
Overheadprojektor, Tafel, Rechner/Beamer<br />
Charakterisierung von Analog-Digital-Konvertern<br />
Definition der Performance-Parameter von Analog-Digitalwandlern<br />
Messtechnische Bestimmung der Parameter von AD-Konvertern<br />
Charakterisierung von Digital-Analog-Konvertern<br />
Testfreundlicher Entwurf von integrierten Digitalschaltungen<br />
Testen von integrierten Digitalschaltungen<br />
Fehlersimulation<br />
Messverfahren zur Charakterisierung von integrierten Analogschaltungen<br />
Grundlegende Literatur:<br />
Zerbst: Mess- und Prüftechnik, Springer, 1986<br />
Daehn, W.: Testverfahren in der Mikroelektronik Springer, 1997<br />
Bennet, B.: Boundary Scan Tutorial, ASSET InterTech Inc., 2002<br />
Kenntnis der Messverfahren von AD- und DA-Konvertern<br />
Kenntnis der Verfahren von Test und testfreundlichem Entwurf digitaler<br />
integrierter Schaltungen<br />
Kenntnis analoger Messverfahren anhand ausgewählter<br />
Analogschaltungen<br />
Fähigkeit zur selbstständigen Lösung von Messproblemen<br />
Kompetenz in der Anwendung verschiedener<br />
Messverfahren der Mikroelektronik<br />
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