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广州周立功单片机发展有限公司 Tel (020)38730976 38730916 Fax 38730925 http //www.zlgmcu.com<br />
注 图 5-4 中所示所有 D 型都由 DBGnTRST 复位<br />
5.4 调试接口<br />
调试接口<br />
<strong>ARM7TDMI</strong>-S 处理器的调试接口是建立在 IEEE 1149.1-1990 标准 标准测试访问端口和边界扫描结构<br />
基础之上的 这一章中所使用术语的详细解释请参考上述标准和 TAP 控制器状态的描述<br />
5.4.1 调试接口信号<br />
与调试接口有关的主要外部信号有<br />
DBGBREAK 和 DBGRQ 是 <strong>ARM7TDMI</strong>-S 内核进入调试状态的系统请求<br />
DBGACK 被 <strong>ARM7TDMI</strong>-S 所使用 用来通知系统已经处于调试状态<br />
5.5 <strong>ARM7TDMI</strong>-S 内核时钟域<br />
内核时钟域<br />
<strong>ARM7TDMI</strong>-S 处理器有一个单时钟 CLK<br />
CLKEN 控制访问存储器系统<br />
DBGTCKEN 控制调试操作<br />
它被下面两个时钟使能所限制<br />
在正常操作过程中 CLKEN 控制 CLK 为内核提供时钟 当 <strong>ARM7TDMI</strong>-S 处理器处于调试状态时<br />
DBGTCKEN 控制 CLK 为内核提供时钟<br />
5.6 EmbeddedICE-RT 宏单元<br />
宏单元<br />
<strong>ARM7TDMI</strong>-S 处理器 EmbeddedICE-RT 宏单元模块为 <strong>ARM7TDMI</strong>-S 内核提供集成的片内调试支持<br />
EmbeddedICE-RT 通过 <strong>ARM7TDMI</strong>-S 处理器 TAP 控制器串行编程 图 5-5 所示为内核 EmbeddedICE-RT<br />
与 TAP 控制器之间的关系 图中只显示了与 EmbeddedICE-RT 有关的信号<br />
<strong>ARM7TDMI</strong>-S<br />
内核<br />
DBGnTRST<br />
EmbeddedICE-RT<br />
宏单元<br />
TAP<br />
CLK<br />
- 39 -<br />
DBGEXT[1:0]<br />
DBGCOMMRX<br />
DBGCOMMTX<br />
DBGRNG[1:0]<br />
DBGACK<br />
DBGBREAK<br />
DBGRQ<br />
DBGEN<br />
DBGTCKEN<br />
DBGTMS<br />
DBGTDI<br />
DBGTDO<br />
图 5-5 <strong>ARM7TDMI</strong>-S 内核 TAP 控制器和 EmbeddedICE-RT 宏单元
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