ARM7TDMI-S(Rev 4)技术参考手册 - Read

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表 8-1 暂时性的 AC 参数
符号 参数 最小 最大
t cyc CLK 周期时间 100% -
t isclken CLKEN 输入建立到 CLK 上升沿 40% -
t ihclken CLK 上升沿到 CLKEN 输入保持 - 0%
t isabort ABORT 输入建立到上升沿 CLK 15% -
t ihabort CLK 上升沿到 ABORT 输入保持 - 0%
t isrdata RDATA 输入建立到 CLK 上升沿 10% -
t ihrdata CLK 上升沿到 RDATA 输入保持 - 0%
t ovaddr CLK 上升沿到 ADDR 有效 - 90%
t ohaddr CLK 上升沿到 ADDR 保持 >0% -
t ovctl CLK 上升沿到控制有效 - 90%
t ohctl CLK 上升沿到控制保持时间 >0% -
t ovtrans CLK 上升沿到处理类型有效 - 50%
t ohtrans CLK 上升沿到处理类型保持时间 >0% -
t ovwdata CLK 上升沿到 WDATA 有效 - 40%
t ohwdata CLK 上升沿到 WDATA 保持时间 >0% -
t iscpstat CPA, CPB 输入建立到 CLK 上升沿 20% -
t ihcpstat CLK 上升沿到 CPA, CPB 输入保持 - 0%
t ovcpctl CLK 上升沿到 协处理器控制有效 - 80%
t ohcpctl CLK 上升沿到协处理器控制保持时间 >0% -
t ovcpni CLK 上升沿到协处理器 CPnI 有效 - 40%
t ohcpni CLK 上升沿到协处理器 CPnI 保持时间 >0% -
t isexc nFIQ, nIRQ, nRESET 建立到 CLK 上升沿 10% -
t ihexc CLK 上升沿到 nFIQ, nIRQ, nRESET 保持 - 0%
t iscfg CFGBIGEND 建立到 CLK 上升沿 10% -
t ihcfg CLK 上升沿到 CFGBIGEND 保持 - 0%
t isdbgstat 调试状态输入建立到 CLK 上升沿 10% -
t ihdbgstat CLK 上升沿到调试状态输入保持 - 0%
t ovdbgctl CLK 上升沿到调试控制有效 - 40%
t ohdbctl CLK 上升沿到调试控制保持时间 >0% -
t istcken DBGTCKEN 输入建立到 CLK 上升沿 40% -
t ihtcken CLK 上升沿到 DBGTCKEN 输入保持 - 0%
t istctl DBGTDI, DBGTMS 输入建立到 CLK 上升沿 35% -
t ihtctl CLK 上升沿到 DBGTDI, DBGTMS 输入保持 - 0%
t ovtdo CLK 上升沿到 DBGTDO 有效 - 20%
t ohtdo CLK 上升沿到 DBGTDO 保持时间 >0% -
t ovdbgstat CLK 上升沿到调试状态有效 40% -
t ohdbgstat 调试状态保持时间 >0% -
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