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ARM7TDMI-S(Rev 4)技术参考手册 - Read

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广州周立功单片机发展有限公司 Tel (020)38730976 38730916 Fax 38730925 http //www.zlgmcu.com<br />

输出 DBGnTDOEN 通常作为 DBGTDO 管脚的输出使能<br />

DBGTMS 输入 EmbeddedICE-RT 模式/JTAG 测试模式选择 DBGTMS 只有在 DBGEN 为<br />

高电平时才可使能<br />

DBGnTRST 输入 /测试复位 这是一个提供给 EmbeddedICE-RT 宏单元内部状态的低有效复<br />

位信号<br />

DMORE 输出 声明 LDM 和 STM 指令 该信号使存储器访问效率更高<br />

nFIQ 输入 低有效快速中断请求 这是一个向处理器发出的高优先级的同步中断请求<br />

如果处理器在该信号为低电平时使能相应中断 则进入中断状态 该信号为<br />

电平触发 必须保持低电平直到接收到处理器对应的中断应答<br />

当 ISYNC 为高电平时 该信号类似于硬件宏单元的 nFIQ<br />

nIRQ 输入 低有效中断请求 这是一个向处理器发出的低优先级的同步中断请求 如果<br />

处理器在该信号为低电平时使能相应中断 则进入中断状态 该信号为电平<br />

触发 必须保持低电平直到接收到处理器对应的中断应答<br />

当 ISYNC 为高电平时 该信号类似于硬件宏单元的 nIRQ<br />

LOCK 输出 锁定的处理操作 当 LOCK 为高电平时 处理器执行一个锁定的存储器访<br />

问<br />

线<br />

仲裁器必须一直等待 LOCK 变为低电平之后才能允许其它器件访问总<br />

PROT[1:0] 输出 这些输出到存储器系统的信号用于指示输出为代码还是数据<br />

用户模式还是特权模式<br />

x0 操作码取指<br />

x1 数据访问<br />

0x 用户模式访问<br />

1x 超级用户或特权模式访问<br />

以及访问属于<br />

RDATA[31:0] 输入 读数据输入总线 这是一个用于传输处理器和存储器之间的指令和数据的<br />

读数据总线 该总线上的数据由处理器在读访问时钟周期结束时进行采样<br />

也就是说 WRITE 为低电平<br />

该信号类似于硬件宏单元的 DIN[31:0]<br />

nRESET 输入 /复位 该输入信号强制处理器终止当前的指令并进入超级用户模式下的复<br />

位向量 它必须保持至少 2 个周期<br />

低电平强制正在执行的指令在下一个非等待周期异常终止并导致处理器在<br />

总线接口执行空闲周期 当 nRESET 恢复到高电平至少 1 个周期之后 处<br />

理器从地址 0 开始重新启动<br />

SCANENABLE 输入 扫描测试路径使能 用于自动测试模式产生 该信号在正常系统配置时为<br />

低电平 在扫描测试时为高电平<br />

SCANIN 输入 扫描测试路径串行输入 用于自动测试模式产生 当 SCANENABLE 有<br />

效(高电平)时 串行移位寄存器输入有效<br />

SCANOUT 输出 扫描测试路径串行输出 用于自动测试模式产生 当 SCANENABLE 有<br />

效(高电平)时 串行移位寄存器输出有效<br />

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