Create successful ePaper yourself
Turn your PDF publications into a flip-book with our unique Google optimized e-Paper software.
广州周立功单片机发展有限公司 Tel (020)38730976 38730916 Fax 38730925 http //www.zlgmcu.com<br />
为读操作 调试状态寄存器的格式见图 5-16<br />
4 3 2 1 0<br />
TBIT TRANS[1] IFEN DBGRQ DBGACK<br />
图 5-16 调试状态寄存器的格式<br />
该寄存器每一位的功能如下<br />
位 功能<br />
4 使能读取 TBIT 使调试器能够确定处理器的状态并因此执行相关的指令<br />
3 使能读取内核的 TRANS[1]信号 这使调试器能够确定调试状态下的存储器访问是否结束<br />
2 使能读取内核中断使能信号 IFEN 的状态<br />
1:0 使能读取 DBGRQ 和 DBGACK 的同步值<br />
调试控制和状态寄存器的结构如图 5-17 所示<br />
调试控制<br />
寄存器<br />
TBIT<br />
( 来自内核)<br />
TRANS[1]<br />
( 来自内核)<br />
DBGACKI<br />
( 来自内核)<br />
Bit 2<br />
Bit 1<br />
DNGRQ<br />
(来自<strong>ARM7TDMI</strong>-S输入)<br />
Bit 0<br />
DBGACKI<br />
( 来自内核)<br />
5.26 结合断点和观察点<br />
结合断点和观察点<br />
+<br />
+<br />
+<br />
+<br />
- 61 -<br />
调试状态<br />
寄存器<br />
Bit 4<br />
Bit 3<br />
Bit 2<br />
Bit 1<br />
Bit 0<br />
图 5-17 调试控制和状态寄存器结构<br />
中断屏蔽使能<br />
( 到内核)<br />
DBGRQI<br />
( 到内核)<br />
DBGACK<br />
(到<strong>ARM7TDMI</strong>-S输出)<br />
使用 CHAIN 和 RANGE 输入可以使观察点单元 1 和 0 结合到一起 CHAIN 使观察点 0 只有在观察点<br />
1 发生匹配的情况下才被触发 RANGE 则通过组合两个观察点的输出使能执行简单的范围检测<br />
5.26.1 断点和观察点结合实例<br />
Av [31:0 ] Be the value in the address value register<br />
Am [31:0 ] Be the value in the address mask register<br />
A [31:0 ] Be the address bus from the <strong>ARM7TDMI</strong>-S processor<br />
Dv [31:0 ] Be the value in the data value register