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ARM7TDMI-S(Rev 4)技术参考手册 - Read

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广州周立功单片机发展有限公司 Tel (020)38730976 38730916 Fax 38730925 http //www.zlgmcu.com<br />

为读操作 调试状态寄存器的格式见图 5-16<br />

4 3 2 1 0<br />

TBIT TRANS[1] IFEN DBGRQ DBGACK<br />

图 5-16 调试状态寄存器的格式<br />

该寄存器每一位的功能如下<br />

位 功能<br />

4 使能读取 TBIT 使调试器能够确定处理器的状态并因此执行相关的指令<br />

3 使能读取内核的 TRANS[1]信号 这使调试器能够确定调试状态下的存储器访问是否结束<br />

2 使能读取内核中断使能信号 IFEN 的状态<br />

1:0 使能读取 DBGRQ 和 DBGACK 的同步值<br />

调试控制和状态寄存器的结构如图 5-17 所示<br />

调试控制<br />

寄存器<br />

TBIT<br />

( 来自内核)<br />

TRANS[1]<br />

( 来自内核)<br />

DBGACKI<br />

( 来自内核)<br />

Bit 2<br />

Bit 1<br />

DNGRQ<br />

(来自<strong>ARM7TDMI</strong>-S输入)<br />

Bit 0<br />

DBGACKI<br />

( 来自内核)<br />

5.26 结合断点和观察点<br />

结合断点和观察点<br />

+<br />

+<br />

+<br />

+<br />

- 61 -<br />

调试状态<br />

寄存器<br />

Bit 4<br />

Bit 3<br />

Bit 2<br />

Bit 1<br />

Bit 0<br />

图 5-17 调试控制和状态寄存器结构<br />

中断屏蔽使能<br />

( 到内核)<br />

DBGRQI<br />

( 到内核)<br />

DBGACK<br />

(到<strong>ARM7TDMI</strong>-S输出)<br />

使用 CHAIN 和 RANGE 输入可以使观察点单元 1 和 0 结合到一起 CHAIN 使观察点 0 只有在观察点<br />

1 发生匹配的情况下才被触发 RANGE 则通过组合两个观察点的输出使能执行简单的范围检测<br />

5.26.1 断点和观察点结合实例<br />

Av [31:0 ] Be the value in the address value register<br />

Am [31:0 ] Be the value in the address mask register<br />

A [31:0 ] Be the address bus from the <strong>ARM7TDMI</strong>-S processor<br />

Dv [31:0 ] Be the value in the data value register

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