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广州周立功单片机发展有限公司 Tel (020)38730976 38730916 Fax 38730925 http //www.zlgmcu.com<br />
<strong>ARM7TDMI</strong>-S<br />
EmbedddedICE-RT<br />
2<br />
<strong>ARM7TDMI</strong>-S<br />
TAP<br />
图 5-7 <strong>ARM7TDMI</strong>-S 扫描链排列<br />
- 44 -<br />
CPU<br />
扫描链 扫描链 1<br />
扫描链 1 提供对内核数据总线 RDATA/WDATA 和 DBGBREAK 信号的串行访问<br />
在该扫描链当中有 33 个位<br />
数据总线位 0 到 31<br />
顺序如下 从串行数据输入到输出<br />
DBGBREAK 位<br />
扫描链 扫描链 扫描链 2<br />
最先移出<br />
扫描链 2 使能对 EmbeddedICE-RT 寄存器的访问 见测试数据寄存器一节<br />
5.11.2 控制 控制 JTAG 接口<br />
接口<br />
JTAG 接口由指令寄存器中当前装载的指令驱动 见指令寄存器一节 装载的指令由 TAP 控制器控制<br />
5.12 TAP 控制器<br />
控制器<br />
TAP 控制器是决定 ARMYTDMI-S 边界扫描测试信号 DBGTDI 和 DBGTDO 状态的状态机 图 8 所示<br />
为发生在 TAP 控制器当中的状态转换
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