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ARM7TDMI-S(Rev 4)技术参考手册 - Read

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广州周立功单片机发展有限公司 Tel (020)38730976 38730916 Fax 38730925 http //www.zlgmcu.com<br />

EmbeddedICE-RT 逻辑包含下面这些部分<br />

两个实时观察点单元<br />

两个实时观察点单元<br />

可以编程这两个观察点或其中一个使内核暂停指令的执行 当编程到 EmbeddedICE-RT 的值与地址总<br />

线 数据总线和不同的控制信号上出现的值相匹配时 指令的执行会被暂停 可以屏蔽其中任何一位使它<br />

的值不影响比较<br />

每个观察点单元都可配置为观察点<br />

器一节<br />

中止状态寄存器<br />

中止状态寄存器<br />

监视数据的访问 或断点 监视指令取指 详见观察点单元寄存<br />

该寄存器用于识别产生异常中止的原因 详见中止状态寄存器一节<br />

调试通信通道<br />

调试通信通道 调试通信通道 DCC<br />

DCC 在目标系统与主机调试程序之间传递信息 详见调试通信通道一节<br />

此外还有两个独立的寄存器提供对 EmbeddedICE-RT 操作的全局控制<br />

调试控制寄存器<br />

调试状态寄存器<br />

EmbeddedICE-RT 寄存器的位置见表 5-1<br />

5.7 禁止 禁止 EmbeddedICE-RT<br />

可以使用以下两种方式禁止 EmbeddedICE-RT<br />

永久<br />

永久<br />

通过将 DBGEN 输入固定为低电平 当 DBGEN 为低电平时<br />

DBGBREAK 和 DBGRQ 被内核忽略<br />

DBGACK 被 <strong>ARM7TDMI</strong>-S 内核强制为低电平<br />

警告<br />

全性<br />

暂时<br />

暂时<br />

输入到处理器的中断未被禁止<br />

EmbeddedICE-RT 逻辑进入低功耗模式<br />

将 DBGEN 输入端固定为低电平会永久禁止调试访问 但是您不能依赖这一点来保证系统的安<br />

通过置位调试控制寄存器的 bit5 bit5 是 EmbeddedICE-RT 的禁止位<br />

在执行下面的动作之前必须置位 bit5<br />

编程断点或观察点寄存器<br />

改变调试控制寄存器的 bit4<br />

5.8 EmbeddedICE-RT 寄存器映射<br />

寄存器映射<br />

EmbeddedICE-RT 寄存器的位置如表 5-1 所示<br />

表 5-1 EmbeddedICE-RT 寄存器的功能和地址<br />

地址 宽度 功能<br />

b00000 6 调试控制<br />

b00001 5 调试状态<br />

b00100 32 调试通信通道 DCC 控制寄存器<br />

b00101 32 调试通信通道 DCC 数据寄存器<br />

b01000 32 观察点 0 地址值<br />

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