Catálogo 2009 - Pós-Graduação - ITA

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New York, 1987; SHABANA, A.A., Dynamics of multibody systems, John Wiley & Sons, New York, 1989. MP-234/2009 - Sensores e Transdutores Requisito recomendado: não há. Requisito exigido: não há. Horas semanais: 3-1- 0-4. Sistemas de medição e aplicações em controle e análise experimental em engenharia. Classificações de sensores e transdutores. Configuração generalizada e elementos funcionais de um sistema de medição. Características de desempenho estáticas e dinâmicas de transdutores e sistemas de medições. Processo de calibração estática e análise de incertezas nas medições. Resposta de um instrumento a entradas padrões: periódicas, transitórias e aleatórias. Introdução a análise espectral e resposta em frequência ideal. Transdutores e sistemas de condicionamento de sinais; amplificação, filtragem e ruído. Transdutores de força, pressão, aceleração, deslocamento, velocidade e fluxo. Transdutores de temperatura fundamentos de sensores e transdutores ópticos. Conversores A/D e D/A. Sistemas de aquisição de dados e transmissão de dados em instrumentação. Bibliografia: WEBSTER, J.G. (Editor), Measurement, Instrumentation and Sensors, Capman and Hall/CRC netBase, 1999; BENTLEY, J.P., Principles of Measurement Systems-2ª edition, John Wiley, New York, 1988; DOEBELIN, E.O., Measurement systems: application and design, 3rd edition, McGraw-Hill, New York, 1983. MP-236/2009 - Sistemas Mecatrônicos de Tempo Real Requisito recomendado: MP-234. Requisito exigido: não há. Horas semanais: 3- 0-0-6. Caracterização de sistemas mecatrônicos de tempo real: entradas, saídas, sensores e atuadores. Ambiente de tempo real e arquitetura de sistemas de tempo real. Tempo global: medidas e sincronização. Modelagem de sistemas mecatrônicos de tempo real. Entidades e imagens de tempo real. Tolerância a falhas. Comunicação em tempo real. Protocolos de tempo real: Time-Triggered Protocol. Sistemas operacionais de tempo real. Projetos de sistema mecatrônicos de tempo real. Aplicações automotivas e aeroespaciais. Bibliografia: KOPETZ, H. Real-Time Systems – Design Principles for Distributed Embedded Applications, Dordrecht: Kluwer Academic Pub, 338p., 1997; LIU, J.W.S. Real-Time Systems, London: Prentice-Hall International Limited, 610p.,
2000; BUTTAZO, G. Hard Real-Time Computing Systems: Predictable Scheduling Algorithms and Applications, London: Springer, 2ed., 444p., 2005. MP-237/2009 - Fundamentos de Metrologia Científica e Industrial Requisito recomendado: não há. Requisito exigido: não há. Horas semanais: 3-0- 0-5. Fundamentos em metrologia: definições gerais; unidades de medida e padrões internacionais; princípios básicos; erros de medição; sistemas de medição; calibração de sistemas de medição; resultados de medições diretas; resultados de medições indiretas; propagação de incertezas. Metrologia industrial: controle de qualidade; seleção de sistemas de medição; confiabilidade de processos na indústria. Instrumentos para medição: medidores de deslocamento, projetor de perfil, instrumentos auxiliares, medição de rugosidade, sistemas de medição por coordenadas, medição a laser. Tópicos de projeto: tolerâncias e ajustes; tolerância geométrica; acabamento superficial; GD & T (gerenciamento de tolerâncias e dimensionamento geométrico). Bibliografia: ALBERTAZZI, A. Fundamentos de Metrologia Científica e Industrial. [S.l.]: Ed. Manole, 2005; DOEBLIN, E. O. Measurements Systems: Application and Design. New York: McGraw Hill, 2003; DRAKE, P. J. Dimensioning and tolerancing handbook. New York: McGraw Hill, 1999. MP-239/2009 - Projeto de Análise de Experimentos Requisito recomendado: não há. Requisito exigido: não há. Horas semanais: 3-0- 0-6. Introdução ao projeto de experimentos: estratégia de experimentação, princípios básicos e aplicações típicas, técnicas estatísticas em experimentação, limites de tolerância, teste de hipótese. Comparação simples de experimentos: conceitos estatísticos básicos, inferências na média e na variância, intervalo de confiança. Experimentos de fator simples: análise de variância (ANOVA), análise de modelos fixos, verificação de adequação do modelo, modelo de efeitos aleatórios, escolha do tamanho da amostra, ajuste de curvas de resposta, técnica de regressão, métodos não paramétricos, análise de covariância. Projetos de experimentos: blocos aleatórios, quadrados latinos e fatoriais. Projeto fatorial de dois fatores, fatoriais 2k, fatorial fracionário de dois níveis, fatorial fracionário de três níveis e níveis mistos. Modelos de ajuste de regressão: modelo de regressão linear, estimativa de parâmetros, intervalo de confiança, previsão de respostas. Introdução ao método de superfícies de respostas,
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