Mikroelektronické praktikum - UMEL - Vysoké učení technické v Brně

88 FEKT Vysokého učení technického v BrněV praxi však častěji při známé ztrátě P Cmax hledáme příslušný tepelný odpor chladicíhosystému K. Podrobnosti je třeba vyhledat v literatuře [2]. Tam je také přehledně rozvedenzpůsob stabilizace pracovního bodu tranzistoru a jeho teplotní kompenzace. Je to důležitáotázka, která musí být beze zbytku vyřešena, má-li navržené zařízení i spolehlivě pracovat.5.4.5 Spolehlivost polovodičových součástekSpolehlivostí rozumíme vlastnost soustavy nebo prvku zajišťovat spolehlivou funkci.Číselně se udává zpravidla tzv. intenzitou poruch λ, tj. poměrem počtu součástek N v , kteréjsou s jistou pravděpodobností vyřazeny z provozu v daném časovém údobí t k počtu xsoučástek ještě fungujících, tedy[h -1 ].Časový úsek t se zpravidla volí 1000 h a součinitel λ se vyjadřuje v % za 1000 h přiteplotě okolí + 40 °C. Obsahuje-li vyšetřovaná soustava více součástek o různých intenzitáchporuch, je celková intenzita poruch celého zařízení dána jejich součtem. Převrácená hodnotaintenzity poruch pak udává střední dobu bezporuchového provozu zařízeníT s= 1 λ[h].Shrnuto to znamená, že známe-li součinitele λ jednotlivých součástek, můžemejednoduchým vztahem určit střední dobu bezporuchového provozu celého zařízení. Průměrnéhodnoty běžných součástí jsou uvedeny v Tab. 5.16.Před použitím každésoučástky musíme ověřit, zdaTab. 5.16: Průměrné intenzity poruch některých součásteknejsou při provozu překročenyjejí mezní hodnoty. Týká se tonejen tranzistorů a diod, kdesledujeme jejich napěťové,proudové a tepelné zatížení, alei ostatních pasívních součástek.Na poruchovostelektrických součástek mánejvětší vliv teplota. Sestoupající teplotou poruchovostroste. Proto např. ugermaniových součástek nemápřestoupit vnitřní teplotasystému za žádných okolností+ 65 °C, u křemíkových+ 100 °C, i když výrobce udávámezní teplotu systému vyšší.Rezistory je vhodné zatěžovatdo 25 % jmenovitého zatížení,tranzistory, diody akondenzátory do 50 %jmenovitého napětí.