170 Bild 13.1: Einteilung eines Leistungsschalters in ...
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Verschiedene GIS-Generationen<br />
Wie aus <strong>Bild</strong> <strong>13.1</strong>.25 zu entnehmen ist, weisen die ersten GIS-Installationen offensichtlich<br />
Frühfehler auf. Daher soll die erste Generation der 123-kV-GIS-Technologie bis 1978 und<br />
der 420-kV-Technologie bis 1988 separat betrachtet werden. Die Fehlerrate dieser<br />
1. Generation <strong>in</strong> Abhängigkeit der fehlerfreien Zeit geht aus <strong>Bild</strong> 13.27 hervor.<br />
Das <strong>Bild</strong> 13.27 zeigt deutlich, dass die Frühfehler im Wesentlichen <strong>in</strong> dieser<br />
Anlagengeneration aufgetreten s<strong>in</strong>d. Weiterh<strong>in</strong> ist auch der Anstieg der Fehlerraten nach 20<br />
bzw. 15 Betriebsjahren auf diese Anlagengeneration zurückzuführen. Es ist von Interesse, ob<br />
dieses Verhalten auch bei der nächsten Generation zu beobachten ist (<strong>Bild</strong> 13.28).<br />
Failure rate /100 bay years<br />
0,10<br />
0,08<br />
0,06<br />
0,04<br />
0,02<br />
mean value per year<br />
mean value for 5 years<br />
mean value for 3 years<br />
> 1978<br />
Failure rate /100 bay years<br />
0,30<br />
0,25<br />
0,20<br />
0,15<br />
0,10<br />
0,05<br />
mean value per year<br />
meanvalue of 3 years<br />
mean value of 5 years<br />
> 1988<br />
0,00<br />
0,00<br />
0 5 10 15 20 25 30 35<br />
0 5 10 15 20<br />
123 kV service years<br />
420 kV<br />
service years<br />
<strong>Bild</strong> 13.28:<br />
Fehlerraten von 123-kV- und 420-kV-GIS-Analgen <strong>in</strong>stalliert nach 1978 bzw.<br />
nach 1988 <strong>in</strong> Abhängigkeit der fehlerfreien Betriebszeit<br />
Das <strong>Bild</strong> 13.28 zeigt, dass die Zuverlässigkeit der Anlagengenerationen nach 1978 bzw. 1988<br />
deutlich besser ist. Offensichtlich konnten die Frühfehler wesentlich verr<strong>in</strong>gert werden durch<br />
verbessertes Design und verbesserte Qualitätssicherungsmaßnahmen im Werk und vor Ort.<br />
Auch der Anstieg der Fehlerraten nach e<strong>in</strong>er gewissen Betriebszeit ist nicht mehr<br />
festzustellen. Es muss jedoch beobachtet werden, ob diese Tendenz sich auch <strong>in</strong> Zukunft bei<br />
der zweiten und den folgenden GIS-Anlagengenerationen bestätigt.<br />
Verschiedene GIS-Hersteller<br />
Aus der Praxis ist bekannt, dass e<strong>in</strong>ige GIS-Fabrikate zuverlässiger s<strong>in</strong>d als andere. Daher<br />
sollen die fünf verschiedenen 123-kV- und die drei verschiedenen 420-kV-Fabrikate aus dem<br />
Datenkollektiv des GIS-Anwenderforums unter diesem Gesichtspunkt näher untersucht<br />
werden. Die Ergebnisse für die beiden meist vertretenen Fabrikate s<strong>in</strong>d <strong>in</strong> <strong>Bild</strong> 13.29 zu<br />
f<strong>in</strong>den.<br />
123 kV 420 kV<br />
Failure rate /100 bay years<br />
manufact. A<br />
0,30<br />
0,25<br />
0,20<br />
0,15<br />
0,10<br />
0,05<br />
mean value for 3 years, manufact. A<br />
mean value for 3 years, manufact. B<br />
0,030<br />
0,025<br />
0,020<br />
0,015<br />
0,010<br />
0,005<br />
0,00<br />
0,000<br />
0 10 20 30 40<br />
service years<br />
Failure rate/100 bay years<br />
manufact. B<br />
failure rate / 100 bay years<br />
0,30<br />
0,25<br />
0,20<br />
0,15<br />
0,10<br />
0,05<br />
mean value of 3 years, manuf. A<br />
mean value of 3 years, manuf. B<br />
0,00<br />
0 5 10 15 20 25 30<br />
service years<br />
<strong>Bild</strong> 13.29:<br />
Fehlerraten von 123-kV- und 420-kV-GIS-Anlagen zwei verschiedener Fabrikate <strong>in</strong><br />
Abhängigkeit der fehlerfreien Betriebszeit<br />
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