atp edition Instandhaltungsstrategien für PLT-Schutzeinrichtungen (Vorschau)
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HAUPTBEITRAG<br />
IPFD ST<br />
aus Gleichung (8) wird berechnet nach<br />
⎛<br />
⎞<br />
⎜<br />
⎟<br />
2 n<br />
n<br />
IPFDST = T ⎜<br />
L λ 1<br />
du + λ<br />
2 ⎟<br />
1∩2<br />
. (17)<br />
⎜ 2( n1<br />
+ 1) 2( n1<br />
+ 1)<br />
( n n )<br />
<br />
<br />
2 + 1+<br />
1 ⎟<br />
⎜<br />
<br />
<br />
⎟<br />
⎝ Beitrag von PT1<br />
Beitrag von PT2<br />
⎠<br />
IPFD<br />
T<br />
ST<br />
L<br />
≥ PFD − PFD =0,<br />
029<br />
avgUNM<br />
avgSET<br />
(22)<br />
Es wird T L<br />
=12 Jahre als die betrachtete Einsatzzeit des<br />
SIS angesetzt.<br />
In dieser Gleichung sind die Beiträge von PT 1<br />
und PT 2<br />
zur Reduktion der mittleren PFD gekennzeichnet.<br />
Damit ergibt sich n 2<br />
, die Anzahl der Prüfzeitpunkte<br />
der TP während der Einsatzzeit T L<br />
, in Abhängigkeit von<br />
n 1<br />
, der Anzahl der Prüfzeitpunkte der HP, als<br />
n1 2 2<br />
( + n1) λduTL − 2( n1+ 1) ( PFDavgUNM −PFDavgSET<br />
)<br />
n2<br />
≥<br />
2( n1<br />
+ 1)(<br />
PFDavgUNM −PFDavgSET ) − ( λdun1+ λ1 ∩ 2 ) TL<br />
(18)<br />
Die resultierenden Prüfstrategien ST = {PT 1<br />
,PT 2<br />
} mit HP<br />
und TP, welche die PFD Anforderung nach Gleichung (9)<br />
erfüllen, sind<br />
{ }<br />
PT1 = TI1,..., n1⋅TI<br />
1<br />
(19)<br />
{ } { ⋅ ⋅ = ⋅ ∈N}<br />
PT2 = TI2,...,( n2 + n1) ⋅TI2 \ i TI2 | i TI2 k TI1,<br />
k<br />
<strong>für</strong> n2 ≥ 0<br />
(20)<br />
Der resultierende Verlauf der PFD(t) eines einkanaligen<br />
SIS-Teilsystems mit HP und TP <strong>für</strong> n 1<br />
=1, n 2<br />
= 2 ist in Bild<br />
2 wiedergegeben.<br />
2. BEWERTUNG DER PRÜFSTRATEGIEN<br />
Die Kosten einer Prüfstrategie bestehend aus der<br />
HP mit n 1<br />
Prüfzeitpunkten und der TP mit n 2<br />
Prüfzeitpunkten<br />
werden durch die Kostenfunktion C(n 1<br />
,n 2<br />
)<br />
quantifiziert<br />
Cn ( , n)<br />
= C⋅ n+ C ⋅ n<br />
(21)<br />
1 2 1 1 2 2<br />
Dabei bezeichnet C 1<br />
die Kosten einer Durchführung der<br />
HP und C 2<br />
die Kosten einer Durchführung der TP.<br />
3. FALLSTUDIE<br />
3.1 SIS-Parameter und Vorgaben<br />
Es wird ein einkanaliges SIS-Teilsystem mit den Parametern<br />
in Tabelle 1 betrachtet. Da<strong>für</strong> werden Prüfstrategien<br />
bestimmt, welche die Unverfügbarkeitsanforderung<br />
PFD avgSET =0,01 nach Gleichung (9) erfüllen. Die<br />
in vorherigen Abschnitten definierten Arten von Wiederholungsprüfungen,<br />
HP und TP, werden angewandt.<br />
Die HP und TP <strong>für</strong> das betrachtete Teilsystem werden<br />
als PT 1 und PT 2 bezeichnet. Durch die Prüfstrategie<br />
muss die mittlere Unverfügbarkeit des SIS, PFD avgMAINT<br />
,<br />
auf einen Wert kleiner als PFD avgSET<br />
reduziert werden.<br />
Demnach müssen die gesuchten anfor derungsgerechten<br />
Prüfstrategien die folgende Ungleichung erfüllen<br />
3.2 Bestimmung der Prüfstrategien<br />
Es werden Prüfstrategien bestehend aus HP und TP <strong>für</strong><br />
die gegebenen Vorgaben und SIS-Parameter bestimmt. In<br />
Bild 3 sind unterschiedliche Prüfstategien als Dreiecke<br />
in Abhängigkeit von n 1<br />
und n 2<br />
, der Anzahl der Prüfzeitpunkte<br />
der HP und der TP, gegeben. Zulässige Prüfstrategien<br />
werden anhand der Ungleichung (18) in Abschnitt<br />
1.5 bestimmt. Die Ungleichung (18) definiert die Fläche<br />
über der roten Linie in Bild 3 und legt damit die zulässigen<br />
Prüfstrategien fest. Die zulässigen Prüfstrategien in<br />
Bild 3 erfüllen damit die vorgegebene Anforderung an<br />
die mittlere Unverfügbarkeit aus Gleichung (9). Zusätzlich<br />
muss das Verhältnis zwischen n 1<br />
und n 2<br />
einer Prüfstrategie<br />
der Bedingung aus Gleichung (15) genügen.<br />
Zu der Pareto-Front gehören diejenigen zulässige Prüfstrategien,<br />
welche die kleinsten zulässigen Werte von n 2<br />
<strong>für</strong> unterschiedliche n 1<br />
aufweisen und somit direkt über<br />
der roten Linie liegen. Die Pareto-optimalen Prüfstrategien<br />
sind als Tupel (n 1<br />
, n 2<br />
) in Tabelle 2 gegeben. Aus<br />
Bild 3 geht hervor, dass die Reduktion von n 1<br />
in der<br />
Regel einhergeht mit einer Erhöhung von n 2<br />
. Die Bedingung<br />
aus Gleichung (15) kann zu Abweichungen von<br />
dieser Regel führen, siehe die Pareto-optimalen Prüfstrategien<br />
ST 2<br />
und ST 3<br />
in Tabelle 2 und Bild 3. Es zeigt<br />
sich, dass <strong>für</strong> zunehmende Werte von n 1<br />
die n 2<br />
Werte<br />
der Pareto-optimalen Prüfstrategien bis auf Null abnehmen.<br />
Ab dann wird die definierte Unverfügbarkeitsanforderung<br />
allein durch die HP erreicht.<br />
Die Auswahl der betriebstechnisch vorteilhaftesten<br />
Prüfstrategie erfolgt gemäß der Kostenbewertung nach<br />
Gleichung (21). Die jeweils kostengünstigste Prüfstrategie<br />
hängt von dem Verhältniss der Kosten einer<br />
Durchführung der TP zu den Kosten einer Durchführung<br />
der HP, C 2<br />
/C 1<br />
, ab. Dieser Zusammenhang ist in Bild<br />
4 visualisiert. Für die Pareto-optimalen Prüfstrategien<br />
sind die resultierenden Kosten, C/C 1<br />
(normiert auf C 1<br />
),<br />
über C 2<br />
/C 1<br />
aufgetragen. Für jede Prüfstrategie ergibt<br />
sich eine Gerade. Aufgrund der unterschied lichen Werte<br />
von n 2<br />
ergeben sich unterschiedliche Steigungen der<br />
Geraden. Die Zunahme der Kosten der Prüfstrategie bei<br />
einer Erhöhung der Kosten C 2<br />
/C 1<br />
hängt ab von n 2<br />
, der<br />
Anzahl der Durchführungen der TP. Der Schnittpunkt<br />
mit der y-Achse hängt von dem Wert n 1<br />
, der Anzahl der<br />
Durchführungen der HP der jeweiligen Prüfstrategie<br />
ab. Kostenoptimal <strong>für</strong> einen Anwendungsfall ist die<br />
Prüfstrategie, welche <strong>für</strong> einen vorgegebenen Wert von<br />
C 2<br />
/C 1<br />
die niedrigsten Kosten C liefert.<br />
Aus Bild 4 geht hervor, dass sich <strong>für</strong> die hier behandelte<br />
Fallstudie drei unterschiedliche kostenoptimale<br />
Prüfstrategien ergeben: <strong>für</strong> niedrige, <strong>für</strong> mittlere und <strong>für</strong><br />
hohe Werte von C 2 /C 1 . Die Ergebnisse werden nachfolgend<br />
beschrieben.<br />
32<br />
<strong>atp</strong> <strong>edition</strong><br />
11 / 2012