atp edition Instandhaltungsstrategien für PLT-Schutzeinrichtungen (Vorschau)

HAUPTBEITRAG
C
Niedrige Kosten der TP: 0 #
2
C
1 0,2
1
Für den Fall von niedrigen Kosten der TP werden Prüfstrategien
mit einer großen Anzahl an Durchführungen
der TP und möglichst kleiner Anzahl an Durchführungen
der HP bevorzugt. In diesem Fall ist (n 1 ,n 2 ) = (1,8). Die kostengünstigste
Prüfstrategie ergibt sich als ST 1 ={PT 1 , PT 2 }
mit PT 1 ={TI 1 } und
PT 2 ={TI 2 ,2·TI 2 ,3·TI 2 ,4·TI 2 ,6·TI 2 ,7·TI 2 ,8·TI 2 ,9·TI 2 ,} für
TI = 52560 h, TI 1 2 = 10512 h.
C
Mittlere Kosten der TP: 0,2 #
C
2
1
Liegen die Kosten der TP in dem angegebenen mittleren
Bereich, dann ergibt sich als kostengünstigste Prüfstrategie
(n 1
,n 2 ) = (2,3). Das bedeutet ST 2 ={PT 1 , PT 2 } mit
PT 1 ={TI 1 ,2· TI 1 }, PT 2={TI 2 ,3· TI 2 ,5· TI 2 } und mit den Intervallen
TI = 35040 h, TI 1 2 = 17520 h.
2 C2
Hohe Kosten der TP: 3
#
C1
Für den Fall von hohen Kosten der TP werden Prüfstrategien
ohne TP bevorzugt. Als kostengünstigste Prüfstrategie
ergibt sich dafür ST 4 ={PT 1 , PT 2 } und (n 1 ,n 2 ) = (4,0). Das
re sultierende Prüfintervall beträgt TI 1 = 21024 h für die
zuge hörigen Prüfungen PT 1 ={PT 2 ={TI 1 ,2· TI 1 ,3 · TI 1 ,4},
PT 2
={ }.
1
2
3
FAZIT
Mit der beschriebenen Methode zur Bestimmung von
kostenoptimalen Prüfstrategien für einkanalige SIS
werden für vorgegebene Parameter von SIS kostenoptimale
Prüfstrategien bestehend aus zwei Typen von Wiederholungsprüfungen
ermittelt. Die Hauptprüfungen
zeichnen sich durch höhere Prüfabdeckung und höheren
Prüfaufwand aus, die Teilprüfungen haben niedrigere
Prüfabdeckung und benötigen geringeren Prüfaufwand.
Die Auswirkungen von nicht-entdeckbaren Fehlern
werden berücksichtigt. Es wurde gezeigt, dass die
kostenoptimale Prüfstrategie von dem Verhältnis der
Kosten der Hauptprüfung zu den Kosten der Teilprüfung
abhängt. Deshalb werden durch Teilprüfungen die
Prüfintervalle der Hauptprüfungen verlängert und die
Anzahl der damit verbundenen Produktionsstillstände
bei gleicher Unverfügbarkeit reduziert.
Angewandt auf eine Fallstudie zeigte sich, dass das
Intervall der Hauptprüfung durch die Teilprüfung mehr
als verdoppelt werden kann. Damit können in der Praxis
Teilhubtests bei Aktoren und Teilprüfungen bei Sensoren
eingesetzt werden, um kostenoptimale Instandhaltungsstrategien
zu erhalten.
MANUSKRIPTEINGANG
04.06.2012
Im Peer-Review-Verfahren begutachtet
AUTOREN
Dipl.-Ing. KONSTANTIN
MACHLEIDT
(geb. 1980) ist wissenschaftlicher
Mitarbeiter am Lehrstuhl
für Automatisierungstechnik
der TU Kaiserslautern.
Sein Forschungsschwerpunkt
liegt im Bereich der Bestimmung
effizienter Instandhaltungsstrategien
für PLT-Schutzeinrichtungen.
TU Kaiserslautern,
Lehrstuhl für Automatisierungstechnik,
Erwin-Schrödinger-Straße 12,
D-67653 Kaiserslautern,
Tel. +49 (0) 631 205 44 54,
E-Mail: machleidt@eit.uni-kl.de
Prof. Dr.-Ing. habil. LOTHAR LITZ
(geb. 1949) leitet den Lehrstuhl
für Automatisierungstechnik
und bekleidet das Amt des
Vizepräsidenten der TU Kaiserslautern.
Hauptarbeitsgebiete:
Process Safety, Networked
Control Systems, Design and
Analysis of Discrete Event
Systems, Ambient Assisted
Living.
TU Kaiserslautern,
Lehrstuhl für Automatisierungstechnik,
Erwin-Schrödinger-Straße 12,
D-67653 Kaiserslautern,
Tel. +49 (0) 631 205 44 51,
E-Mail: litz@eit.uni-kl.de
34
atp edition
11 / 2012