3-2013

Qualitätssicherung
Hilpert electronics und ihre Tochter Weidinger stellten das
neue Inspektionssystems Magnus HD Prestige des dänischen
Herstellers Tagarno vor. Damit geht Tagarno einen neuen Weg
in der Welt der Mikroskopie, indem Merkmale, wie optische
und digitale Vergrößerung, Autofocus, HD-Bildauflösung, Ergonomie
und einfache Dokumentation, in einem intuitiv bedienbaren
System vereint wurden.
Neues Inspektionssystem
Je nach Linse wird eine Vergrößerung von 6- bis zu 500-
fach auf einem 22-Zoll-Monitor erzielt. Das bedeutet, dass
man einen deutlich größeren Bildausschnitt als mit konventionellen
Mikroskopen bei minimalem Zoom überblicken kann.
Zusätzlich ermöglicht die Stabilität des Aufbaus und die Bildqualität
der Kamera eine 500-fache Vergrößerung mit einem
„Field of View“ hinunter bis zu einem Millimeter.
Die Arbeitshöhe zwischen Linse und Auflage beträgt niemals
weniger als 33,4 mm, sogar bei höchster Auflösung mit
einer +50-Linse. Der Zoom ist stufenlos und ruckelfrei regelbar.
Das Magnus HD Prestige zeigt, was man sieht, in einem
extrem scharfen HD-Bild mit unübertroffener Farbbrillanz.
Was auf dem Monitor zu sehen ist, ist exakt das, was unter der
Linse liegt – ohne Verzerrung, Verzögerung oder Interferenzen.
Ein weiteres Alleinstellungsmerkmal des Magnus HD Prestige
ist der Autofokus, welcher sofortige Bildschärfe bei jeglicher
Vergrößerung liefert. Zur Begutachtung von Objekten
mit unterschiedlichen Niveaus kann jedoch jederzeit in den
manuellen Fokus umgeschaltet werden.
Das Inspektionssystem liefert Bilder mit 60 fps, was ein sauberes
Livebild ohne Verzögerungen ermöglicht. Dadurch kann
man das Objekt unter der Linse bewegen und erhält dennoch
ein messerscharfes Live-Bild.
Hilpert electronics AG, www.hilpert-electronics.com
Einzelhalbleiter-Testsystem und Curve Tracer
für alle Anforderungen
Das universelle Einzelhalbleiter-Testsystem
der Serie 5000
für alle diskreten Bauteilfamilien
von der Firma Scientific
Test ist von Syntel Testsysteme
in das Vertriebsprogramm aufgenommen
worden. Der Einsatzbereich
umfasst die Prüfung
des gesamten diskreten
Spektrums von Dioden, Transistoren
über SCRs, MOSFETs,
IGBTs bis zum Optokoppler,
auch für gemischte Bauteilvarianten.
Der Spannungs- und
Strombereich von 1.000 V und
50 A kann bei Bedarf mit Optionen
bis 2.000 V
und 1.200 A erweitert
werden.
Eine Low-Current-Option
erlaubt
Sperrstrommessungen
bis 20 pA
bei 1 pA Auflösung.
Für Mehrfachbauteile
mit bis
zu 24 Pins werden
Scanner (1.200
V/30 A) verschiedener
Ausbaustufen
angeboten,
ebenso für Hybride
und Leistungshalbleiter,
die in einem
Gehäuse zusammengefasst
sind
(2.000 V/100 A).
Zur Anbindung des Grundsystems
an mehrere Teststationen,
sei es manueller Art oder für
Handlingsysteme, stehen Multiplexer
zur Verfügung. Zur Kontaktierung
und Aufnahme der
Prüflinge gibt es ein umfangreiches
Sortiment an Adaptern.
Die Programmerstellung
erfolgt auf einem Standard-PC
mit Windows 7 pro. Die komfortable
Software auf Menübasis
erlaubt die Eingabe der vorgegebenen
Parameter gemäß Datenblatt
sowie weitere Messungen
mit externen Komponenten. Das
Programm wird in das System
geladen, welches dann autark
betrieben wird. Alle Möglichkeiten
des Dataloggings und
Data Managements der Ergebnisse
sowie die Sortierung von
Bauteilen sind Bestandteil der
Software. Ein umfangreicher
Selbsttest mit Diagnosehardware
gehört zum Lieferumfang
des Systems. Für Curve-Tracer-
Anwendungen kann das System
mit einem eigenen Softwarepaket
geliefert werden.
Syntel Testsysteme GmbH
synteltest@aol.com
www.syntel-testsysteme.de
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