Industrielle Automation 3/2015

TITEL I SENSOR+TEST 2015
die nicht kosteneffizient, flexibel und problemlos
zu unterstützen ist, alle paar Jahre
kapitalintensive Anschaffungen von gänzlich
neuer technischer Ausstattung. Aller ­
dings sorgen die Vorteile eines erhöhten
Durchsatzes und der Großserienfertigung
dafür, dass sich ein universeller Testansatz
in der Halbleit erbranche immer mehr
durchsetzt, sodass sich diese Herausforderungen
leicht bewältigen lassen.
Selbst entwickeln oder kaufen?
Testmanager erkennen inzwischen, dass sie
Prüfgeräte zu „universellen“ Testern umgestalten
können, ohne sie komplett selbst
bauen oder durch einen Anbieter erstellen
lassen zu müssen. Doch mit ausreichend
Fachwissen, Erfahrung und Zeit entwickeln
Unternehmen wie Intel und Altera eigene
Testlösungen von Grund auf, da der Markt
ihren Bedarf nicht deckt.
In einer im vergangenen Sommer veröffentlichen
Pressemitteilung zur Markteinführung
einer HDMT-Plattform (High Density
Modular Test) sagte Babak Sabi, Vice
President und Director of Assembly and
Test Technology bei Intel: „Wir haben die
HDMT-Plattform entwickelt, um eine rasche
Testentwicklung und Prozesssteuerung auf
Unit-Level zu ermöglichen. Diese bewährte
Methode senkt die Kosten im Vergleich
zu klassischen Testplattformen deutlich.
Durch HDMT werden die für die Markteinführung
notwendigen Prüfzeiten verringert
und die Produktivität erhöht, da eine gemeinsame
Plattform von der Fehlersuche in
Kleinserien bis hin zur Großserienfertigung
verwendet wird.“ In diesem Fall hat sich
Intel für höhere Vorlaufkosten und weiterreichenden
internen Support entschieden,
um von den geringeren Kapitalkosten zu
profitieren. Da die meisten Testabteilungen
nicht über das Fachwissen verfügen,
ein eigenes automatisiertes
Prüfsystem zu erstellen, oder nicht die
Zeit für die Wartung der Software aufbringen
können, erwerben sie in der
Regel handelsübliche automatisierte
Testsysteme von einem der führenden
Anbieter dieses Marktes. Dieser Ansatz
spricht jene an, die Support durch
den Anbieter schätzen. Oft sind jedoch
die Systeme überdimensioniert
und erfordern beträchtlichen Kapitalaufwand,
woraus sich ein Amortisierungszeitraum
ergibt, der den kürzeren
Lebenszyklus der Produkte von
heute überschreiten kann. Die Strategie,
ein System selbst zu erwerben, ist
in Situationen geeignet, in denen die
Produktlebensdauer dem Tilgungsplan
entspricht und der notwendige Grad an
Flexibilität minimal ist, sodass keine Zusatzinvestitionen
erforderlich sind.
Traditionelle ATE-Systeme (Automated
Test Equipment) müssen unter erheblichem
Kostenaufwand mit neuen
Werkzeugen auf dem Prüffeld umgerüstet
werden, da Generationen von
Prüfsystemen veralten oder neue
Anforderungen an Tests nicht mehr
erfüllt werden können. Aber die offene
PXI-Architektur unterstützt uns dabei,
unsere ursprünglichen Investitionen
zu wahren und darauf aufzubauen,
statt sie entsorgen zu müssen. Sie
bietet die Flexibilität, die wir für die
Rekonfiguration und Ausweitung
unserer Prüfplattformen benötigen.
Glen Peer, Director oft Test Engineering, IDT
01 Das PXI-basierte NI Semiconductor
Test System (STS) kombiniert modulare
Messgeräte und Systemdesignsoftware
für RF- & Mixed-Signal-Produktionstests
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