pdf (French) - Institut Fresnel

viii TABLE DES FIGURES
2.3 Plusieurs nano-particules de natures différentes sont déposées sur un substrat
plan en verre. La pointe au-dessus de la surface balaye celle-ci afin
d’obtenir une image optique de l’échantillon étudié, ce qui permet de localiser
et caractériser les différentes particules en présence. . . . . . . . . . . . 38
2.4 Force optique s’exerçant sur une sphère en verre en fonction de la distance
pointe-sphère : L’irradiance du faisceau incident est de 0.05 W/µm 2 avec un
angle d’incidence de θ = 43 ◦ > θc = 41.8 ◦ et λ = 500 nm. La pointe est en
tungstène avec un rayon de courbure à son apex de 10 nm. (a) Polarisation
TM. (b) Polarisation TE. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 39
2.5 Exemples de micro-moteurs. 36 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 41
3.1 L’objet ou les objets (deux cubes sur le schéma proposé) sont éclairés avec L
différents angles d’incidence et le champ électromagnétique (module+phase)
est mesuré sur la surface Γ en M points d’observations. En pointillé est défini
le domaine d’investigation Ω dans lequel l’objet est supposé être. . . . . . . 46
3.2 (c) Schéma de la configuration étudiée : la taille du domaine d’investigation
est de 2λ × 2λ × 2.2λ, les objets sont des cubes de côté λ/4 éclairés par
16 ondes planes se propageant dans la direction des z positifs avec θ0 ∈
[−80 ◦ ,80 ◦ ]. Le champ électromagnétique est mesuré au-dessus de la surface
avec θd ∈ [−80 ◦ ,80 ◦ ]. (a) Reconstruction de la partie réelle de la permittivité
relative. (b) Reconstruction de la partie imaginaire de la permittivité relative. 48
3.4 Cubes de côté λ/4 espacés de λ/3 disposés suivant l’axe z. (a) Carte de la
permittivité relative dans le plan (x,z). (b) Carte de la permittivité relative
dans le plan (x,y). (c) Coupe de la permittivité relative selon z à x = y = 0.
En trait plein le profil réel de la permittivité relative. . . . . . . . . . . . . . 49
3.3 Cubes de côté λ/4 espacés d’une distance c = λ/7 disposés suivant l’axe
x. (a) Carte de la permittivité relative dans le plan (x,z). (b) Carte de la
permittivité relative dans le plan (x,y). (c) Coupe de la permittivité relative
selon x à z = y = 0. En trait plein le profil réel de la permittivité relative. . 49
3.5 (a) Schéma de la configuration utilisée. (b), (c), et (d) Carte de la permittivité
relative dans le plan (x,y) à z = λ/40 et dans le plan (x,z) à y = 0. (b)
Seules les ondes évanescentes sont utilisées : θ0 ∈ [−80 ◦ , −43 ◦ ] ∪ [80 ◦ ,43 ◦ ].
(c) Seules les ondes évanescentes sont utilisées mais le champ diffracté est
bruité. (d) Ondes propagatives + évanescentes (θ0 ∈ [−80 ◦ ,80 ◦ ]) avec le
champ diffracté bruité. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 50
3.6 (a) Deux objets dipolaires (cubes de 20 nm de côté et de permittivité relative
2.25) sont déposés sur un réseau caractérisé par p = 100 nm, m = 66.7 nm,
l = 6.66 nm, h = 6.75 nm, εs = 2.25, εa = 4.41, εl = −8.4537 + 0.6984i
(argent). Le réseau est éclairé par 8 ondes planes polarisées TM tel que
θ0 = 80 ◦ et λ = 500 nm dans le vide. Le champ diffracté est mesuré sur 80
points d’observations tel que montré sur la figure. (b) Carte de permittivité
relative reconstruite dans le plan (x,y) à une altitude de 12 nm par rapport
au substrat nanostucturé. Le champ diffracté a été corrompu avec 10% de
bruit. Les carrés noirs représentent la vraie position des cubes et en rouge
les motifs du réseau. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 51