18.04.2019 Views

NGHIÊN CỨU TỔNG HỢP VẬT LIỆU CeO2/TiO2 NANO ỐNG VÀ HOẠT TÍNH XÚC TÁC PHÂN HỦY QUANG HÓA TRONG VÙNG KHẢ KIẾN

https://app.box.com/s/iblcjiythku2zxxs54ngnytkei9tzkp1

https://app.box.com/s/iblcjiythku2zxxs54ngnytkei9tzkp1

SHOW MORE
SHOW LESS

Create successful ePaper yourself

Turn your PDF publications into a flip-book with our unique Google optimized e-Paper software.

tungsten. Các điện tử này đƣợc t ng tốc bằng một điện trƣ ng (đƣợc tính bằng<br />

volts). Các điện tử khi đi qua mẫu chứa đựng những thông tin về mật độ điện tử,<br />

pha cấu trúc tinh thể, d ng điện tử này dùng để tạo hình ảnh.<br />

Ưu điểm của phương pháp hiển vi điện tử truyền qua: Phƣơng pháp TEM có<br />

thể dễ dàng đạt đƣợc độ phóng đại 400.000 lần với nhiều vật liệu, và với các<br />

nguyên tử nó có thể đạt đƣợc độ phóng đại tới 15 triệu lần. TEM cho ta hình ảnh về<br />

cấu trúc vi mô bên trong mẫu vật r n, khác hẳn với các kiểu kính hiển vi khác. Nói<br />

cách khác, TEM có khả n ng tạo ra những bức ảnh thật của các cấu trúc nano với độ<br />

phân giải rất cao (tới cấp độ nguyên tử).<br />

- Kỹ thuật chuẩn bị mẫu để ghi ảnh TEM: Mẫu vật liệu chu n bị cho<br />

phƣơng pháp TEM phải m ng để cho phép electron có thể xuyên qua giống nhƣ tia<br />

sáng có thể xuyên qua vật thể trong hiển vi quang học, do đó việc chu n bị mẫu s<br />

quyết định tới chất lƣợng của ảnh TEM. Thông thƣ ng, độ dày của mẫu phải xử l<br />

m ng dƣới 150 nm, hay thậm chí thấp hơn 100 nm. Các mẫu đƣợc phân tán trong<br />

dung môi ethanol trong 15 phút bằng siêu âm. Sau đó dung dịch huyền phù đƣợc<br />

nh lên lƣới đồng rất m ng, và tiếp tục làm khô bằng đèn hồng ngoại [2], [3], [5].<br />

- Thực nghiệm: Trong luận án này, ảnh TEM đƣợc ghi trên máy JEOL JEM<br />

- 2100F ở 80 KV và Tecnai G 2 F30 Field Emission Transmission Electron<br />

Microscope (FETEM).<br />

2.3.3. Hiển vi điện t qu t (Scanning Electron Microscopy, SEM)<br />

Phƣơng pháp hiển vi điện tử quét (SEM) đƣợc sử dụng để nghiên cứu bề<br />

mặt của vật liệu, phƣơng pháp này cho biết các thông tin về hình thái của bề mặt và<br />

kích thƣớc hạt.<br />

- Nguyên tắc: Nguyên t c cơ bản của phƣơng pháp SEM là sử dụng chùm<br />

tia điện tử để tạo ảnh mẫu nghiên cứu. Ảnh đó đến màn huỳnh quang có thể đạt độ<br />

phóng đại theo yêu cầu. Chùm tia điện tử đƣợc tạo ra từ catot (súng điện tử) qua 2<br />

tụ quang điện tử s đƣợc hội tụ lên mẫu nghiên cứu. Khi chùm điện tử đập vào mẫu<br />

nghiên cứu s phát ra các chùm điện tử phản xạ và điện tử truyền qua. Các điện tử<br />

phản xạ và truyền qua này đƣợc đi qua điện thế gia tốc vào phần thu và biến đổi<br />

30

Hooray! Your file is uploaded and ready to be published.

Saved successfully!

Ooh no, something went wrong!