Udredning om geofysiske målemetoder - KUPA projektet
Udredning om geofysiske målemetoder - KUPA projektet
Udredning om geofysiske målemetoder - KUPA projektet
Create successful ePaper yourself
Turn your PDF publications into a flip-book with our unique Google optimized e-Paper software.
Figur 4.3. Foto (til venstre) af Ge<strong>om</strong>etrics OhmMapper anvendt i felten. (Foto Th<strong>om</strong>as<br />
Røntved). Skitse (til højre) af OhmMapper-systemet. Sender og antennerne, s<strong>om</strong> udgør<br />
den kapacitivt koblede sender-dipol er placeret bagest og styres fra modtageren med<br />
radiolink. Modtager og den kapacitivt koblede modtager-dipol er placeret tættest på personen,<br />
s<strong>om</strong> trækker udstyret og bærer styringspanel og skærm.<br />
Indtrængningsdybde<br />
Indtrængningsdybden afhænger af jordlagenes elektriske modstand, dipollængder og -<br />
afstande. Indtrængningsdybden vil typisk lige i intervallet 10–20 m. I meget konduktive jorde<br />
vil indtrængningsdybden være mindre og i meget resistive jorde kan indtrængningsdybden<br />
være større, da det er muligt at benytte store dipollængder og -afstande.<br />
Vertikal og lateral strukturopløsning<br />
Den laterale og vertikale strukturopløsning afhænger dels af elektrodekonfigurationerne og<br />
dels af jordens resistivitetsstrukturer og disses resistivitetskonstraster. Der er ikke foretaget<br />
systematiske undersøgelser af den laterale og vertikale strukturopløsning. Enkelte modelleringsstudier<br />
viser, at strukturopløsningen aftager hurtigt med dybden (se f.eks. Dahlin &<br />
Loke 1998).<br />
For den vertikale strukturopløsning findes en generel t<strong>om</strong>melfingerregel <strong>om</strong>, at det ikke er<br />
muligt at bestemme både modstand og tykkelse for et lag, med mindre det er mindst lige så<br />
tykt s<strong>om</strong> de overliggende lag tilsammen.<br />
For den laterale strukturopløsning gælder almene principper <strong>om</strong>, at det ikke er muligt at<br />
opløse strukturer, s<strong>om</strong> er mindre end afstanden mellem målepunkterne.<br />
Undersøgelsesdesign og feltprocedurer<br />
Data måles langs profiler. Der kan måles med én eller to elektrodekonfigurationer ad gangen.<br />
For at få information <strong>om</strong> den vertikale resistivitetsstruktur, skal samme profil passeres<br />
et antal gange svarende til antallet af anvendte dipolafstande og -længder. Profiltætheden<br />
vælges ud fra den ønskede detaljeringsgrad.<br />
44