27.07.2013 Views

Udredning om geofysiske målemetoder - KUPA projektet

Udredning om geofysiske målemetoder - KUPA projektet

Udredning om geofysiske målemetoder - KUPA projektet

SHOW MORE
SHOW LESS

Create successful ePaper yourself

Turn your PDF publications into a flip-book with our unique Google optimized e-Paper software.

Figur 4.3. Foto (til venstre) af Ge<strong>om</strong>etrics OhmMapper anvendt i felten. (Foto Th<strong>om</strong>as<br />

Røntved). Skitse (til højre) af OhmMapper-systemet. Sender og antennerne, s<strong>om</strong> udgør<br />

den kapacitivt koblede sender-dipol er placeret bagest og styres fra modtageren med<br />

radiolink. Modtager og den kapacitivt koblede modtager-dipol er placeret tættest på personen,<br />

s<strong>om</strong> trækker udstyret og bærer styringspanel og skærm.<br />

Indtrængningsdybde<br />

Indtrængningsdybden afhænger af jordlagenes elektriske modstand, dipollængder og -<br />

afstande. Indtrængningsdybden vil typisk lige i intervallet 10–20 m. I meget konduktive jorde<br />

vil indtrængningsdybden være mindre og i meget resistive jorde kan indtrængningsdybden<br />

være større, da det er muligt at benytte store dipollængder og -afstande.<br />

Vertikal og lateral strukturopløsning<br />

Den laterale og vertikale strukturopløsning afhænger dels af elektrodekonfigurationerne og<br />

dels af jordens resistivitetsstrukturer og disses resistivitetskonstraster. Der er ikke foretaget<br />

systematiske undersøgelser af den laterale og vertikale strukturopløsning. Enkelte modelleringsstudier<br />

viser, at strukturopløsningen aftager hurtigt med dybden (se f.eks. Dahlin &<br />

Loke 1998).<br />

For den vertikale strukturopløsning findes en generel t<strong>om</strong>melfingerregel <strong>om</strong>, at det ikke er<br />

muligt at bestemme både modstand og tykkelse for et lag, med mindre det er mindst lige så<br />

tykt s<strong>om</strong> de overliggende lag tilsammen.<br />

For den laterale strukturopløsning gælder almene principper <strong>om</strong>, at det ikke er muligt at<br />

opløse strukturer, s<strong>om</strong> er mindre end afstanden mellem målepunkterne.<br />

Undersøgelsesdesign og feltprocedurer<br />

Data måles langs profiler. Der kan måles med én eller to elektrodekonfigurationer ad gangen.<br />

For at få information <strong>om</strong> den vertikale resistivitetsstruktur, skal samme profil passeres<br />

et antal gange svarende til antallet af anvendte dipolafstande og -længder. Profiltætheden<br />

vælges ud fra den ønskede detaljeringsgrad.<br />

44

Hooray! Your file is uploaded and ready to be published.

Saved successfully!

Ooh no, something went wrong!