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Ein hochsymmetrisches Heterodyninterferometer zur Demonstration ...

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40 Theoretisches Konzept der Interferometrie<br />

Abbildung 3.15: differential wavefront sensing DWS. Die Phasen der<br />

einlaufenden Wellenfronten (WF) werden auf den jeweiligen Elementen der<br />

Quadrantenphotodiode (QPD) gemittelt. Sind die Wellenfronten verkippt,<br />

so ergibt sich ein Phasenunterschied zwischen den Signalen des oberen und<br />

des unteren Photodiodenelements, aus dem mit r eff auf die Verkippung der<br />

Wellenfronten geschlossen werden kann.<br />

Dabei ist λ die Wellenlänge des einfallenden Lichts. Der Winkel β unter dem die<br />

Wellenfronten gegenüber der Photodiodenoberfläche verkippt sind ist dann gegeben<br />

durch:<br />

tan β = ∆x<br />

r eff<br />

(3.45)<br />

= (φ u − φ o )λ<br />

2π r eff<br />

(3.46)<br />

≈ β (3.47)<br />

→ α = (φ u − φ o )λ<br />

π r eff<br />

(3.48)<br />

Bei der verwendeten Nährung wurde der Winkel β ≪ 1 als klein angenommen.<br />

Die Berechnung von r eff wurde in [12] für Gaußsche Strahlen hergeleitet. Aus der<br />

numerischen Auswertung (ω 0 = 1.44 mm) folgt dann:<br />

α = 1<br />

13500 · (φ u − φ o ) . (3.49)<br />

Diese Methode wird als differential wavefront sensing bezeichnet. Meist werden<br />

beim differential wavefront sensing Quadrantendioden verwendet, die aus vier<br />

<strong>Ein</strong>zelelementen bestehen und auf diese Weise die beiden möglichen Verkippungswinkel<br />

der Wellenfronten bestimmen können.

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