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Fachzeitschrift für Elektronik-Produktion - Fertigungstechnik, Materialien und Qualitätsmanagement

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ERZÄHLE MIR MEHR ÜBER JTAG-SOFTWARE!<br />

JTAG/Boundary-Scan (auch<br />

bekannt als IEEE Std. 1149.1) ist eine<br />

schnelle und einfache Methode<br />

zur Prüfung von Fertigungsfehlern<br />

auf elektronischen Baugruppen<br />

oder PCBAs. Des Weiteren kommt<br />

das Verfahren sehr häufig zur<br />

Programmierung von IC’s, wie z.B.<br />

cPLDs, FPGAs oder Flash-Speicher<br />

auf der elektronischen Baugruppe,<br />

während des Fertigungsprozess<br />

oder später bei einem Software-/<br />

Firmwareupdate, zum Einsatz.<br />

Durch eine breite Palette von<br />

Hardware- und Software-Tools,<br />

welche für unterschiedlichen<br />

Anforderungen entwickelt wurden,<br />

können kundenspezifische JTAG/<br />

Boundary-Scan Lösungen zusammengestellt<br />

werden. In dieser<br />

„Erzähl mir mehr” Ausgabe, werden<br />

verschiedene JTAG/Boundary-Scan<br />

Software Werk zeuge für Design,<br />

Produktion und (Vor Ort-) Service mit<br />

ihrem Leistungsumfang untersucht.<br />

SOFTWAREPRODUKTE FÜR<br />

DESIGN UND (VOR ORT-)SERVICE<br />

Bei der Verwendung von JTAG/<br />

Boundary-Scan fungieren die<br />

Signalpins der Boundary-Scan<br />

Bausteine als I/O Pins und erlaubt<br />

das Ansteuern und Rücklesen von<br />

Werten am entsprechenden Schaltungsnetz.<br />

Diese imaginären Testpunkte<br />

sind permanent vorhanden<br />

und können über den JTAG interface,<br />

TAP(Test Acces Port) der Boundary-<br />

Scan-Kette auf der Leiterplatte<br />

einfach verwendet werden.<br />

Von der Baugruppe lernen<br />

Um Verbindungs- oder Logiktests<br />

durchzuführen, müssen die<br />

Boundary-Scan Bausteine und die<br />

Kettenstruktur, d.h. Reihenfolge der<br />

Bausteine bekannt sein. Nachdem<br />

der TAP Anschluss mit dem JTAG<br />

Controller verbunden ist, lässt<br />

sich die Kettenstruktur mit einem<br />

speziellen Erkennungsalgorithmus<br />

automatisch erfassen.<br />

Mit den vorliegenden Informationen<br />

und der Verknüpfung mit den<br />

Modellen für die Boundary-Scan-<br />

Bausteinen, können die Boundary-<br />

Scan Pins angesteuert und ausgelesen<br />

werden, um die gewünschten<br />

Applikationen zu erstellen. Die<br />

Modelldateien für die Boundary-<br />

Scan-Bausteine werden als BSDL-<br />

Dateien (Boundary-Scan Description<br />

Language) bezeichnet und vom<br />

Bausteinhersteller bereitgestellt.<br />

Automatisches lernen und testen mit JTAGlive AutoBuzz<br />

Produkte<br />

Ist die Kettenstruktur und die<br />

verfügbaren imaginären Boundary--<br />

Scan Pins bekannt, können<br />

Konnektivitätsprüfungen über die<br />

Boundary-Scan Kette durchgeführt<br />

werden. Hier können Sie auf interaktive<br />

Werkzeuge aus der JTAGLive<br />

Familie zurückgreifen:<br />

• Beobachten/Überwachen eines<br />

Signals und Erkennen einer<br />

direkten Verbindung zwischen<br />

zwei Boundary-Scan-Pins (Buzz).<br />

• Fan-out; Anzeigen aller Boundary-Scan-Sense-Pins,<br />

die mit<br />

einem Boundary-Scan-Drive-Pin<br />

verbunden sind (BuzzPlus).<br />

• Automatisches ablernen aller<br />

direkten/indirekten Verbindungen<br />

zwischen Boundary-<br />

Scan-Bausteine (AutoBuzz).<br />

• Test der Verbindung von Nicht-<br />

Boundary-Scan-Bausteine (Cluster),<br />

welche mit Boundary-Scan-Bausteine<br />

verbunden sind (Clip).<br />

• Testen der I/O-Verbindungen<br />

eines Mikrocontrollers ohne<br />

Boundary-Scan-Register (Core -<br />

Commander).<br />

• Testen von Logikblöcken und<br />

Programmieren von Bauteilen<br />

mit Hilfe von JTAG Applikationen<br />

welche direkt im Python Code,<br />

LabVIEW oder .Net geschrieben<br />

werden (Script).<br />

Einige Applikationsbeispiele, welche<br />

mit Script umgesetzt werden<br />

können, sind z.B. das Testen von<br />

Mixed-Signal Bausteinen, sowie das<br />

Testen von Schaltungselementen,<br />

die Schleifen für Testmuster zum<br />

Aufbau von Registern benötigen<br />

(z. B. Speicher-Controller). Darüber<br />

hinaus können auch Flash-Programmieranwendungen<br />

mit Script erstellt<br />

werden.<br />

Basis Verbindungstest mit JTAGLive Buzz<br />

Sowohl die interaktiven Werkzeuge<br />

(Buzz, Clip, etc.) als auch Script sind<br />

als eigenständige JTAGLive-Module<br />

(www.jtaglive.com) erhältlich.<br />

JTAGLive Studio beinhaltet alle<br />

diese Softwaremodule (bis auf den<br />

CoreCommander) in nur einem<br />

Paket und beinhaltet einen JTAGLive<br />

Controller. Zur Unterstützung bei<br />

der Programmierung von cPLDs sind<br />

auch „Player“ zur Übertragung von<br />

anderen Formaten wie JAM-, STAPLund<br />

SVF-Dateien verfügbar.<br />

JTAGLive Studio ist eine komplette<br />

JTAG/Boundary-Scan Lösung welche<br />

zur Hardware Validierung, zur<br />

Überarbeitung und Reparatur von<br />

Leiterplatten, zum Test und zur Programmierung<br />

von kleinerer PCBAs<br />

Chargen verwendet werden kann.<br />

Das CoreCommander Modul, greift<br />

auf den Core des Bausteins zu. Hier<br />

wird der Baustein im JTAG-Debug/<br />

Emulationsmodus betrieben und<br />

greift nicht mehr auf die herkömmlichen<br />

Boundary-Scan-Register zu.<br />

Das Modul ist als optionale Erweiterung<br />

von JTAGLive Studio oder<br />

Script erhältlich.<br />

SOFTWAREPRODUKTE FÜR DIE<br />

PRODUKTION<br />

Boundary-Scan-Produktionstests<br />

können als Verbindungstests betrachtet<br />

werden, die zur Erkennung von<br />

Lötfehlern verwendet werden: offene<br />

Pins, kurzgeschlossene Pins oder auch<br />

Stuck at 1/0 Fehler (Pins, die mit der<br />

Stromversorgung oder Masse kurzgeschlossen<br />

sind).<br />

Falsch bestückte Boundary-Scan-<br />

Bausteine werden im Infrastrukturtest<br />

erkannt, während fehlende<br />

nicht Boundary-Scan fähigen<br />

Komponenten als Teil eines Verbindungstests<br />

erkannt werden<br />

(z. B. ein Vorwiderstand in einer<br />

Boundary-Scan-Verbindung). Es<br />

gibt viele verschiedene Arten von<br />

Boundary-Scan- Verbindungstests,<br />

die auch als Strukturtests bezeichnet<br />

und automatisch erstellt<br />

werden. Zusammen sollten diese<br />

Tests, die auch durch manuell generierte<br />

Clustertests ergänzt werden,<br />

in der Lage sein, alle Lötfehler zu<br />

erkennen, auf welche Boundary-<br />

Scan-„Zugriff” besteht.<br />

Fehlerabdeckung und<br />

automatische Testgeneration<br />

Für die automatische Testgenerierung<br />

und die Berechnung der<br />

Fehlerabdeckung benötigen die<br />

Software-Tools die Leiterplatten-<br />

Verbindungsdaten, die so genannte<br />

“Netzliste”. In dieser sind alle<br />

Verbindungen (Netze) und Bauteile<br />

der Leiterplatte aufgeführt, sowohl<br />

Boundary-Scan als auch Non-<br />

Boundary-Scan. Diese detaillierte

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