Jahresbericht 2009 - IMMS Institut für Mikroelektronik
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Steuerungs- und Kommunikationstechnik<br />
• Busse und Vernetzung von Systemen<br />
(eingebettete Kommunikation,<br />
Sensorvernetzung)<br />
• Sensornahe Signalverarbeitung<br />
• Einsatz freier Betriebssysteme <strong>für</strong><br />
eingebettete Anwendungen<br />
• Softwarearchitekturen <strong>für</strong> eingebettete<br />
Systeme<br />
• Echtzeitsteuerung von Aktoren<br />
• Neue Kommunikationstechnologien<br />
(drahtgebunden, drahtlos)<br />
Testmethodik/Testplattformen<br />
• Simulation, Test und Charakterisierung von<br />
MEMS<br />
• Modalanalyse und harmonische Analyse<br />
von Gerätestrukturen (messtechnisch und<br />
simulativ)<br />
<strong>Jahresbericht</strong> <strong>2009</strong> I Profil<br />
• HF-Charakterisierung von Bauelementen<br />
und IP-Blöcken in neuen Halbleiter-<br />
technologien sowie Rauschmessung<br />
• HF-Schaltungsentwicklung und HF-<br />
Boarddesign u.a. <strong>für</strong> Testerloadboards<br />
• Charakterisierung von optoelektronischen<br />
Schaltungen mit Spezialisierung auf<br />
dynamische Kenngrößen<br />
• Testmethodik <strong>für</strong> die Qualitätssicherung in<br />
der Halbleiterindustrie<br />
• Testmethodik <strong>für</strong> den Hochtemperatur-<br />
bereich bis 300 °C<br />
• On-Wafer-Hochvoltmesstechnik bis 1000 V<br />
• Modulare Testerplattformen<br />
Die Bereiche im Entwicklungs- und Fertigungsprozess,<br />
die wir nicht unmittelbar am <strong>Institut</strong> angesiedelt<br />
haben, werden von dem starken Partnernetzwerk des<br />
<strong>Institut</strong>es abgedeckt, das uns damit die komplette<br />
Umsetzung der Entwicklungskette ermöglicht.<br />
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