Jahresbericht 2009 - IMMS Institut für Mikroelektronik
Jahresbericht 2009 - IMMS Institut für Mikroelektronik
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INHALTSVERZEICHNIS<br />
RF-IPs ..Đ 36<br />
Charakterisierung mit modularen PXI-Testsystemen .............................................................................. 36<br />
Flexibel Konfigurierbares PXI-Testsystem .......................................................................... 39<br />
Entwurf von und Einsatzerfahrungen bei on-wafer Messungen im Halbleiterbereich ................................. 39<br />
Fotodiode ........................................................................................................................... 42<br />
Verbesserung der Testqualität <strong>für</strong> optoelektronische Schaltungen ........................................................... 42<br />
Fotodetektor-IC .................................................................................................................. 45<br />
PDIC <strong>für</strong> Blu-ray-Disc-Laufwerke mit 12-facher Schreib- und Lesegeschwindigkeit ................................... 45<br />
Literaturverzeichnis ........................................................................................................... 48<br />
Publikationen – Patente – Veranstaltungen ....................................................................... 49<br />
<strong>IMMS</strong> Team ......................................................................................................................... 58<br />
Anfahrt – Kontakt .............................................................................................................. 60<br />
<strong>Jahresbericht</strong> <strong>2009</strong> I Inhaltsverzeichnis
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