Jahresbericht 2009 - IMMS Institut für Mikroelektronik
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Abbildung 2: Kontaktierung des Mischers on-wafer mit drei<br />
ACP Probes<br />
ENTWICKLUNG MODULARER<br />
TESTSYSTEME<br />
Neben den verfügbaren PXI-Karten wie:<br />
• HF-Downkonverter und Digitizer<br />
• HF-Signalgeneratoren<br />
• Relaistreiber<br />
• Digitalkarten<br />
• Stromversorgung<br />
wurden auch eigene PXI-Karten zur Erweiterung der<br />
Messmöglichkeiten entwickelt. Als Beispiel wird hier<br />
eine PMU-Karte [11], die als 32-kanaliges Sourcemeter<br />
eingesetzt werden kann, angeführt. Damit<br />
war es möglich, einen Anschlusstest an 32 Pins vorzunehmen<br />
und eine rauscharme Stromversorgung<br />
des VCOs sicherzustellen. Herausragend ist jedoch,<br />
dass damit Ströme bis unter 1 nA gemessen wurden,<br />
was bisher auf PXI-Ebene nicht möglich war.<br />
Weiterhin kann diese Karte auch als 32-kanaliges<br />
Digitalmultimeter verwendet werden. Diese Systemerweiterung<br />
wurde zusätzlich durch den Einsatz<br />
von optimierten HF-Schaltern zur Messportumschaltung<br />
ergänzt. Durch den Einsatz dieses kompakten,<br />
erweiterbaren – eben modularen – Testsystems<br />
konnte die gestellte Messaufgabe im Bereich bis zu<br />
2,4 GHz realisiert werden. Darüber hinaus werden<br />
durch das Multiplexen der Messsignale Testressourcen<br />
eingespart.<br />
<strong>Jahresbericht</strong> <strong>2009</strong> I HF-Zellen<br />
Der Einsatz der am <strong>IMMS</strong> konfigurierten modularen<br />
PXI-Testsysteme bietet eine Vielzahl von Vorteilen:<br />
• Kompakte Geräteanordnung<br />
• Übersichtliche, kurze Verkabelung<br />
• Integration verschiedenster Messkarten<br />
• Deutlich kürzere Messzeiten<br />
• Flexibles Messdatenmanagement<br />
• Modulare komplexe Messabläufe<br />
• Spezialmessungen in Software<br />
• Platz- und Energieeinsparung<br />
• Schnellere Programmentwicklung<br />
• Wiederverwendbarkeit der Programme<br />
• Flexible Skalierbarkeit/Erweiterbarkeit<br />
• Möglichkeit zur Datenauswertung online<br />
ZUSAMMENFASSUNG<br />
Am <strong>IMMS</strong> wurde eine modulare Hard- und Softwareplattform<br />
zur Charakterisierung von HF-Zellen durch<br />
Messungen auf PCBs und on-wafer entwickelt. Im<br />
Zentrum dieser Entwicklungsarbeiten standen modulare<br />
PXI-Testsysteme, die durch eigene Hardware- und<br />
Softwaremodule ergänzt wurden. Das System aus<br />
Hard- und Software zeichnet sich durch Modularität<br />
und Wiederverwendbarkeit aus. Dadurch können<br />
Entwicklungszeiten deutlich verkürzt werden. Weiterhin<br />
wird durch die Nutzung von umfassend dokumentierten<br />
Standard-HF-Baublöcken der Designprozess<br />
<strong>für</strong> kundenspezifische Applikationen beschleunigt.<br />
Entscheidend ist auch, dass sich auf Grund der einheitlichen<br />
Messplattform die Vergleiche zwischen<br />
unterschiedlichen technologischen Lösungen vereinfachen.<br />
Die definierte Messumgebung erhöht die<br />
Reproduzierbarkeit der Messbedingungen und damit<br />
auch der Messergebnisse. Dies führt zu einem erleichterten<br />
Datenmanagement. Die statistische Auswertung<br />
und Visualisierung der Ergebnisse liefert außerdem<br />
wichtige Erkenntnisse <strong>für</strong> einen sicheren und effektiveren<br />
Schaltungsentwurf.<br />
Björn Bieske, Themengebietsleiter HF-Systeme, Industrielle<br />
Elektronik und Messtechnik, bjoern.bieske@imms.de<br />
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