2000 - Fachgebiet Hochspannungstechnik
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31.10. Besprechung Siemens Medizintechnik in Erlangen<br />
"TE-Messung an Spulen"<br />
Prof. Gockenbach, Prof. Borsi, Dipl.-Ing. Koschnitzki<br />
09.11. Besprechung Arbeitskreis AiF in Hannover<br />
"Untersuchungen zur elektrotechnischen Nutzung hochwärmeformbeständiger<br />
Reaktionsharzformstoffe durch Modifikation der Komponenten, insbesondere<br />
der Füllstoffe",<br />
Prof. Gockenbach, Prof. Borsi, Dipl.-Ing. Kotte<br />
20.-21.11. Besprechung ABB-Forschungszentrum in Dättwil, Schweiz<br />
"Epoxidharztechnologie"<br />
Prof. Borsi, Dipl.-Ing. Kotte<br />
22.11. Besprechung Dornier, Friedrichshafen, in Hannover<br />
"Impulstransformatoren"<br />
Prof. Gockenbach, Prof. Borsi<br />
01.12. Besprechung Haefely Test Systems, Basel, in Hannover<br />
"Prüfanlagen"<br />
Prof. Gockenbach<br />
16.12. Besprechung UKE in Hamburg<br />
"Verhalten von PVC Isolierungen"<br />
Prof. Gockenbach<br />
19.12. Besprechung Behnke Transformatoren in Hannover<br />
"Elektrische Festigkeit von flüssigen Isolierstoffen"<br />
Prof. Gockenbach, Prof. Borsi<br />
8 Gastwissenschaftler<br />
Herr MsEE Weerapun Rungseevijitprapa, Institut für Elektrische Energietechnik,<br />
Chulalongkorn Universität, Bangkok, Thailand, ist seit Oktober 1996 als Stipendiat<br />
des DAAD Gast am Schering-Institut. Er wird sich im Rahmen seiner Dissertation mit<br />
der Beurteilung der Nutzungsdauer von VPE-Hochspannungskabelisolierungen mit<br />
Hilfe eines Modells zur Kabelalterung beschäftigen.<br />
Herr Dr. Issouf Fofana ist seit dem 1. Februar 1998 als Stipendiat der Alexander-von-<br />
Humboldt-Stiftung am Schering-Institut. Er beschäftigt sich im Rahmen seiner wissenschaftlichen<br />
Qualifikation (Habilitation) mit Verfahren zur Lebensdauerverlängerung<br />
der Isolierung betriebsgealterter Transformatoren und Wandler, insbesondere im<br />
Hinblick auf Feuchtigkeit in festen und flüssigen Isolierstoffen.<br />
Herr Dr. Asghar Akbari Azirani ist seit dem 1. April <strong>2000</strong> als Stipendiat der<br />
Alexander-von-Humboldt-Stiftung am Schering-Institut. Er ist auf dem Gebiet<br />
Teilentladungsüberwachung und -ortung an Hochspannungstransformatoren tätig.
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