Nickelreaktivlot / Oxidkeramik-Fügungen als elektrisch ... - JuSER
Nickelreaktivlot / Oxidkeramik-Fügungen als elektrisch ... - JuSER
Nickelreaktivlot / Oxidkeramik-Fügungen als elektrisch ... - JuSER
You also want an ePaper? Increase the reach of your titles
YUMPU automatically turns print PDFs into web optimized ePapers that Google loves.
82<br />
Crofer 22 APU<br />
Ni102 & CuTi<br />
MgO<br />
Crofer 22 APU<br />
80<br />
Chromboride<br />
Ni Fe Cr<br />
Ni Si Ti<br />
+ Ni Cr Fe<br />
5 μm<br />
70<br />
Elementanteil [Gew.-%]<br />
60<br />
50<br />
40<br />
30<br />
20<br />
10<br />
Cr<br />
Fe<br />
Ni<br />
Mg<br />
O<br />
Elementanteil [Gew.-%]<br />
0<br />
30 0 10 20 30 40 50 60 70 80 90 100<br />
Ni<br />
Fe<br />
Messtiefe [μm] O<br />
25<br />
Cr<br />
Mg<br />
20<br />
15<br />
10<br />
5<br />
B<br />
Si<br />
Cu<br />
Mn<br />
Ti<br />
0<br />
0 10 20 30 40 50 60 70 80 90 100<br />
Messtiefe [μm]<br />
Abb. 6-29: Die GDOES-Analyse zeigt die vollständige Lösung von Kupfer in der Lotmatrix {Fügung:<br />
Crofer 22 APU / MgO-Beschichtung / Ni102 & Cu10Ti (6:1) / Crofer 22 APU; Lötzyklus 3: 1070°C, 10 -4 mbar; GDOES}<br />
Die bei den Analysen im Vorkapitel beobachtete deutliche Anreicherung von Titan an der<br />
Keramik ist nicht feststellbar. Ergänzend konnte in STEM/EDX-Analysen eine geringe<br />
Titanerhöhung in einem circa 30 bis 90 nm dicken Saum nachgewiesen werden, der jedoch in<br />
seiner Homogenität und Ausprägung stark von der im Vorkapitel beschriebenen Reaktionszone<br />
differiert (Abb. 6-30).<br />
(a)
Change language