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2.4.1 Procedimiento Experimental La Tabla 2.3. muestra la composici6n de 10s aceros estudiados Tabla 2.3. Composici6n (9/0 peso ) de accros cornparados con el &12. / Acero ?i W Mo Cr V Nb 5: 1 4.5 1.5 2.0 2.0 l.G1 I I I1 9.0 0.0 4.5 2.0 2.0 0.95 3d 3.0 1.5 2.0 2.0 0.95 5.2 4.1 1.9 0.0 0.83 Las muestras. inicialmente en el estado blando, fueron sometidas a tratamiento de templado (2' = 1050 f 5CC; t = 60rnzn), revenido (T = 544 & 3'C; t = 65rnan), y doble revenido (T = 537 f 3"; t = 6Omm). Los recocidos y enfiiamientos subsiguientes, que fueron fuera del horno, se reaiizaron en condiciones de vacio din6mico de difusora. Las muestras fueron estudiadas con un microscopio electr6nico de barrido, equipado con analizador dkpersi~o en energia (EDAX) (Philips PSM 500). Se midi6 la microduresa Vickers en " >, 10s distintos estados con un pequefio escleroscogio DW&Q$T Leitz. cqn.la gesa d* 300 g. f de las determinaciones estuvo dentro del3%. La composici6n quimica de 10s carburos fue estudiada en 1% muestras templadas mecliaslte ripli- cas de extraccidn de carbono aplicando tCcnicas de rnicmanilisis de lkas delgadas. Con nuestm equipo no fue posible determinar el congenido de carbono. La composicilin metilica (c(i)) fue calcu- lada de modo.~ue Cc(i) = 100. Los cada r4plica fueron elqidos. al. azar, 3 se rr?iciieron I- k #T - - I! I I en total 94 f cazuiros. La identscacicin de 10s diferentes carburos se hiso sobre la base de la composici6n metilica, y por comparaci6n con 10s carburos tipicos del acero q2. Debido a que la composici6n qquimica de 10s distintos aceros es cliferente no se pudieron comparar directamente 10s c(i) sino que hub0 que comparar combinac?ones 1ineaj:s de 10s mismos. -4 - . - 1
2.4.2 Descripcibn de Algunas Tkcnicas Experimentales 2.4.2.1. 'hIicroscopia Elect Anica de Barrido El micr~scopio electr6nico dl: barrido [PO331 consiste en 10s siguientes ~nijdulos: - Columna 6ptico-electrdnica, generadora de un haz de electrones finamente colimados que inciden sobre la superficie de la muestra. - Sistema de defleccihn doble del haz electrbnico. - Sistema de detecci6n de seiiales originadas en la superficie de la muestra. - Sistema electrbnico de defleccibn de estas sefiales. - Sistema de visualizaci6n de imigenes: tub0 de rayos cat6dicos. Una regi6n de la superficie de la muestra es explorada mediante un barrido horizontal g otro vertical del haz de electrones. Este barrido se logra mediante las bobinas del sistema de deflecciijn a las que se aplica m a determinada seiial, la que es aplicda simultaneamente a1 haz del tub0 de rayos cat6dicos. Esto da lugar a una correspondencia punto a punto entre la superficie de la muestra barrida por el haz de elertrones y la pantalla fluorescente del tubo. La Fig. 2.8 muestra un esquema de microscopio electr6nico de barrido. Un punto de la superficie de la muestra alcanzado por el haz de ele~t~rones da origen a distintas sefiales, que pueden ser detectadas independientemente y convert.idas en un pulso elktrico g luego convenientemente amplificadas por un sistema electronico. Una de estas senales es elegida para modular la intensidad del haz del tubo de sayos cat6$cos y este hecho define el mod0 de operaci6n del microscopio electrbnico de barrido. La Fig. 2.7 muestra el esquema de un detector de electrones secundarios. Los electrones son acelerados por la grilla hacia el cristal centelleador. Se origins asi un pulso luminoso que pasa por una guia de luz hacia el fotomultiplicador. La cascada de fotones resultante es convertida en un pulso eldctrico por el detector final, y este putso es amplificado por el sistemi, electrbnico. El mismo 102
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